東隆集團(tuán)自研的光纖微裂紋檢測(cè)儀(OLI)是以白光干涉為原理, 利用白光的低相干性可實(shí)現(xiàn)光纖鏈路或光學(xué)器件的微損傷檢測(cè)。其測(cè)試長(zhǎng)度由最初的6cm已升級(jí)至1m，我們研發(fā)工程師在攻克橫向測(cè)試長(zhǎng)度升級(jí)的同時(shí)也在不斷研究拓展縱向探測(cè)深度，現(xiàn)在光纖微裂紋檢測(cè)儀(OLI)測(cè)試深度已由-80dB正式升級(jí)至-90dB。

下面我們用光纖微裂紋檢測(cè)儀（OLI）測(cè)試波分復(fù)用器，OLI能明顯測(cè)試出器件內(nèi)部-90dB附近反射峰值。

本次，光纖微裂紋檢測(cè)儀(OLI)測(cè)量深度從-80dB新升級(jí)到-90dB，采用全新的光路設(shè)計(jì)以及更換鏈路模塊，完成這次-90dB測(cè)試深度升級(jí)，設(shè)備測(cè)試性能和穩(wěn)定性都有所提升，因此光纖微裂紋檢測(cè)儀(OLI)1m測(cè)試長(zhǎng)度搭配-90dB的探測(cè)深度能更大程度滿足客戶測(cè)試所需。

光纖微裂紋檢測(cè)儀又稱低成本光學(xué)鏈路診斷系統(tǒng)(OLI)，該系統(tǒng)通過讀取最終干涉曲線的峰值大小，精確測(cè)量整個(gè)掃描范圍內(nèi)的回波損耗，進(jìn)而判斷此測(cè)量范圍內(nèi)鏈路的性能，其事件點(diǎn)定位精度高達(dá)幾十微米，最低可探測(cè)到-90dB光學(xué)弱信號(hào)，廣泛用于光纖或光器件損傷檢測(cè)以及產(chǎn)品批量出貨合格判定。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

??超高采樣分辨率和定位精度

??超寬動(dòng)態(tài)范圍

??可定制引纖長(zhǎng)度，便于匹配實(shí)際測(cè)量環(huán)境

??可定制掃描測(cè)量長(zhǎng)度

??支持多通道測(cè)量升級(jí)

產(chǎn)品應(yīng)用：

??光纖微裂紋檢測(cè)

??硅光芯片、PLC波導(dǎo)瑕疵損耗檢測(cè)

??FA光纖陣列鏈路性能檢測(cè)

??光器件、光模塊內(nèi)部耦合點(diǎn)、連接點(diǎn)性能檢測(cè)