通用嵌入式系統(tǒng)自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)

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通用嵌入式系統(tǒng)測(cè)試平臺(tái)（Embedded System Interface Test Studio,簡(jiǎn)稱： ETest）是針對(duì)嵌入式系統(tǒng)進(jìn)行實(shí)時(shí)、閉環(huán)、非侵入式測(cè)試的自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)，適用于嵌入式系統(tǒng)在設(shè)計(jì)、仿真、開(kāi)發(fā)、調(diào)試、測(cè)試、集成驗(yàn)證和維護(hù)等各階段配置項(xiàng)級(jí)別和系統(tǒng)級(jí)別的動(dòng)態(tài)測(cè)試與驗(yàn)證。

?ETest提供了針對(duì)嵌入式系統(tǒng)的半實(shí)物硬件在環(huán)仿真測(cè)試環(huán)境，通過(guò)模擬待測(cè)系統(tǒng)的外部環(huán)境并產(chǎn)生信號(hào)輸入到待測(cè)系統(tǒng)，同時(shí)獲取并分析待測(cè)系統(tǒng)的輸出信號(hào)，實(shí)現(xiàn)針對(duì)嵌入式系統(tǒng)的自動(dòng)化功能測(cè)試。

?ETest具有適用范圍廣、通用性強(qiáng)、自動(dòng)化測(cè)試程度高、擴(kuò)展性好、攜帶方便、配置靈活、操作簡(jiǎn)單以及使用成本低等特點(diǎn)，能滿足軍事工業(yè)、工業(yè)控制、儀器儀表、汽車電子等各領(lǐng)域嵌入式系統(tǒng)的測(cè)試與驗(yàn)證需求。

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1.1 ??ETest主要特點(diǎn)

2? 是一套完整的針對(duì)嵌入式系統(tǒng)的自動(dòng)化動(dòng)態(tài)確認(rèn)測(cè)試平臺(tái)，可以實(shí)現(xiàn)硬件在環(huán)、非侵入式的系統(tǒng)級(jí)測(cè)試，完成基于實(shí)裝難以完成的測(cè)試任務(wù)；

2? 集成測(cè)試資源管理、測(cè)試環(huán)境描述、協(xié)議腳本開(kāi)發(fā)、測(cè)試用例設(shè)計(jì)、測(cè)試執(zhí)行監(jiān)控、測(cè)試任務(wù)管理等功能為一體；

2? 具有通用化的通信協(xié)議定義與描述語(yǔ)言處理環(huán)境，可以定義和描述各類結(jié)構(gòu)的總線協(xié)議；

2? 具有高度開(kāi)放的協(xié)議模板管理接口，通過(guò)不斷在測(cè)試中積累各領(lǐng)域的應(yīng)用層協(xié)議，實(shí)現(xiàn)針對(duì)不同領(lǐng)域嵌入式系統(tǒng)自動(dòng)化測(cè)試解決方案的快速構(gòu)建；

2? 提供豐富的測(cè)試監(jiān)控儀表和高度靈活的協(xié)議字段綁定方法，支持收發(fā)數(shù)據(jù)字段的雙向綁定，并具有表達(dá)式綁定能力；

2? 集可視化窗體靈活配置的人工測(cè)試與腳本化語(yǔ)言高級(jí)開(kāi)發(fā)的自動(dòng)化測(cè)試于一體，滿足初、中、高不同級(jí)別的測(cè)試需求；

2? 提供測(cè)試用例腳本編輯與開(kāi)發(fā)環(huán)境，通過(guò)簡(jiǎn)單的通道與協(xié)議字段賦值，便可完成測(cè)試數(shù)據(jù)的收發(fā)與測(cè)試邏輯的判斷；

2? 在底層實(shí)現(xiàn)了接口與通道管理、協(xié)議組包與解包、協(xié)議的校驗(yàn)、測(cè)試參數(shù)的組合等功能，測(cè)試人員只需將關(guān)注點(diǎn)放在測(cè)試邏輯的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)上；

2? 具有插件化的功能擴(kuò)充能力，無(wú)論是通信協(xié)議描述還是測(cè)試用例描述，平臺(tái)都提供了對(duì)插件的開(kāi)發(fā)支持；

2? 具有分布式的軟件體系架構(gòu)和計(jì)算能力，可實(shí)現(xiàn)從單機(jī)到多機(jī)不同規(guī)模的測(cè)試環(huán)境構(gòu)建；

2? 可以完成單配置項(xiàng)單接口、單配置項(xiàng)多接口以及多配置項(xiàng)的系統(tǒng)測(cè)試任務(wù)；

2? 支持多種類型測(cè)試：功能測(cè)試、接口測(cè)試、邊界測(cè)試、強(qiáng)度測(cè)試、安全性測(cè)試、恢復(fù)性測(cè)試、性能測(cè)試、敏感性測(cè)試、余量測(cè)試、容量測(cè)試、壓力測(cè)試、隨機(jī)測(cè)試、異常測(cè)試等。

1.2 ??ETest主要功能

2? 支持的I/O接口類型包括：RS232、RS422、RS485、MIL-STD-1553B、CAN、TCP、UDP、AD、DA、DI、DO、ARINC429、FlexRay、SPI、I2C，并可靈活補(bǔ)充擴(kuò)展；

2? 支持對(duì)待測(cè)系統(tǒng)及其外圍環(huán)境、接口情況等進(jìn)行可視化仿真建模設(shè)計(jì)；

2? 提供通訊協(xié)議描述語(yǔ)言（DPD語(yǔ)言）及其編譯編輯環(huán)境；

2? 支持自定義可視化數(shù)據(jù)監(jiān)控界面以及實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)監(jiān)控；

2? 具有測(cè)試用例腳本編輯、開(kāi)發(fā)與執(zhí)行能力；

2? 實(shí)時(shí)記錄測(cè)試數(shù)據(jù)并加時(shí)間戳自動(dòng)保存；

2? 提供測(cè)試數(shù)據(jù)生成、接口調(diào)試等相關(guān)工具；

2? 支持測(cè)試數(shù)據(jù)管理及統(tǒng)計(jì)分析；

2? 高精度的數(shù)據(jù)采集及數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換；

2? 可通過(guò)表格、儀表、枚舉、曲線圖以及狀態(tài)燈等手段實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)關(guān)鍵變量；

2? 可按二進(jìn)制、十進(jìn)制、十六進(jìn)制監(jiān)測(cè)輸入與輸出的原始報(bào)文并查詢過(guò)濾；

2? 支持測(cè)試記錄及結(jié)果的查看、測(cè)試報(bào)告自動(dòng)生成；

2? 測(cè)試腳本語(yǔ)言支持時(shí)序測(cè)試和多線程任務(wù)測(cè)試；

2? 系統(tǒng)擴(kuò)展能力強(qiáng)，可靈活組建大、中、小不同規(guī)模的測(cè)試環(huán)境；

2? 可根據(jù)測(cè)試需求集成函數(shù)發(fā)生器與高性能示波器等測(cè)試設(shè)備。

1.3 ??ETest架構(gòu)

平臺(tái)由軟件和硬件兩部分組成。軟件部分主要包括測(cè)試設(shè)計(jì)軟件模塊、測(cè)試執(zhí)行服務(wù)軟件模塊、測(cè)試執(zhí)行客戶端軟件模塊、設(shè)備資源管理軟件模塊、各類接口設(shè)備調(diào)試軟件及測(cè)試輔助軟件等。硬件部分主要包括測(cè)試主機(jī)、各類接口板卡以及相關(guān)設(shè)備等。

根據(jù)不同的客戶需求，平臺(tái)提供USB模式( ETest-USB)、PCI工控機(jī)模式( ETest-PCI)與PXI機(jī)箱模式( ETest-PXI)三種類型的架構(gòu)產(chǎn)品。不同類型架構(gòu)產(chǎn)品測(cè)試主機(jī)與接口板卡的形式不同。

1.4 ??ETest應(yīng)用領(lǐng)域：

3、 ETest-PCI架構(gòu)產(chǎn)品

3.1 產(chǎn)品簡(jiǎn)介

PCI總線架構(gòu)產(chǎn)品的硬件部分由工控機(jī)箱、CPU卡式工業(yè)主板、工控底板、與各類PCI接口板卡組成。工控機(jī)箱中安裝CPU卡式工業(yè)主板、底板與各類PCI接口板卡，其中PCI接口板卡包括了RS232、RS422、RS485、CAN、1553B、AD采集、DA轉(zhuǎn)換、DI/DO等常見(jiàn)接口。

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PCI總線架構(gòu)產(chǎn)品的軟件部分與USB架構(gòu)產(chǎn)品的軟件部分類似，除各類板卡的驅(qū)動(dòng)程序與通道封裝模塊不同外，其余軟件模塊均相同。

3.2 測(cè)試環(huán)境搭建

?ETest-PCI使用PCI架構(gòu)的機(jī)箱及CPU主板，搭配各種PCI接口板卡，形成多接口的測(cè)試環(huán)境。PCI作為高性能地址數(shù)據(jù)線復(fù)用的總線，在高度集成的控制器器件、擴(kuò)展板和處理器/存儲(chǔ)器系統(tǒng)之間提供一種內(nèi)部連接機(jī)制，適合于對(duì)實(shí)時(shí)性要求較高的待測(cè)系統(tǒng)。

PCI工控機(jī)箱中可選擇不同型號(hào)的工控底板，構(gòu)成具有不同PCI槽數(shù)的測(cè)試系統(tǒng)。用戶可以根據(jù)需要選擇選擇PCI擴(kuò)展槽數(shù)及PCI接口板卡，搭建工業(yè)級(jí)測(cè)試環(huán)境。

1）單套測(cè)試環(huán)境：一套 ETest-PCI，包括1個(gè)工控機(jī)箱、1個(gè)卡式CPU主板、1塊工控底板和多塊PCI接口板卡。

2）多套聯(lián)合測(cè)試環(huán)境：多套 ETest-PCI通過(guò)局域網(wǎng)聯(lián)網(wǎng)組成較大規(guī)模的測(cè)試環(huán)境。其中每套 ETest-PCI均包括1個(gè)工控機(jī)箱、1個(gè)卡式CPU主板、1塊工控底板和多塊PCI接口板卡。多套 ETest-PCI通過(guò)網(wǎng)絡(luò)集中管理調(diào)控，實(shí)現(xiàn)對(duì)較大規(guī)模、較復(fù)雜待測(cè)系統(tǒng)的測(cè)試需求。

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3.3 主要特點(diǎn)

2? 可滿足較為苛刻的環(huán)境要求，為數(shù)據(jù)的高速傳輸及處理提供可靠的硬件條件；

2? PCI總線形式的板卡保證了測(cè)試系統(tǒng)具有較高的實(shí)時(shí)性；

2? 硬件投資成本較低，有多種工業(yè)級(jí)板卡可選。