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CZ法制造單晶硅工藝全流程介紹

2023-08-28 14:16 作者:芯片智造  | 我要投稿


制造單晶硅片的過程比你想象的要復(fù)雜得多。這個過程需要精密的設(shè)備、高科技的材料,以及精細(xì)的控制。其中最主要的制造方法被稱為Czochralski法,簡稱CZ法。這個方法由波蘭化學(xué)家Jan Czochralski于1916年發(fā)明,至今仍是制造單晶硅片的主要方法。


CZ法制單晶硅片一般會包括七個大步:硅原料的準(zhǔn)備,熔爐的準(zhǔn)備,熔化多晶硅,引晶,與長單晶硅,冷卻與檢驗,切片與拋光。1.硅原料的準(zhǔn)備CZ法生產(chǎn)單晶硅的原料是多晶硅,這種多晶硅需要具有極高的純度,通常要求在99.9999%以上。這種純度的多晶硅也被稱為電子級硅。在使用多晶硅之前,需要對其進(jìn)行嚴(yán)格的清潔處理,以去除表面的氧化物和可能的雜質(zhì)。除了清潔處理,多晶硅還需要進(jìn)行一些預(yù)處理,例如破碎和篩選,以便于后續(xù)的熔煉過程。破碎的多晶硅粒度需要控制在適當(dāng)?shù)姆秶鷥?nèi),過大或過小都會影響熔煉的效率和均勻性。
2.熔爐的準(zhǔn)備
硅的熔點為1414℃,因此需要熔爐提供足夠高的溫度來熔化硅。而且,熔爐內(nèi)部的溫度需要精確控制,在生長單晶硅的過程中,溫度的細(xì)微變化都可能影響到單晶硅的質(zhì)量。在硅熔化和生長的過程中,需要防止硅與氧或其他雜質(zhì)的反應(yīng),因此,熔爐通常需要保持在真空或充滿惰性氣體(如氬氣)的環(huán)境中。因此需要準(zhǔn)備能夠產(chǎn)生高溫,有惰性氣體或真空環(huán)境,可均勻加熱和攪拌的熔融爐。


3.熔化多晶硅首先,將高純度的多晶硅放入熔爐中的石英坩堝內(nèi),然后啟動熔爐,將硅加熱至超過其熔點(1414℃)。在硅熔化的過程中,需要通過攪拌設(shè)備(通常為磁力攪拌器)保持硅的均勻性。這個過程需要精確控制攪拌的速度和強度,以防止硅的過度攪拌或者不均勻。硅的熔化過程需要在一定的溫度范圍內(nèi)進(jìn)行,這個溫度范圍通常比硅的熔點稍高一些,以保證硅的完全熔化。溫度的精確控制是非常重要的,因為溫度的細(xì)微變化都可能影響到單晶硅的質(zhì)量。在硅快要熔化完成的時候,需要準(zhǔn)備引入種子晶。種子晶是一小塊預(yù)先制備的單晶硅,它的晶格結(jié)構(gòu)將指導(dǎo)熔化的硅的凝固方向,形成單晶硅。


4,引晶與單晶硅生長種子晶是一小塊預(yù)先制備的單晶硅,它的晶格結(jié)構(gòu)將指導(dǎo)熔化的硅的凝固方向,形成單晶硅。種子晶的選擇非常重要,它需要具有高純度、合適的晶格方向,以及適當(dāng)?shù)某叽绾托螤?。?dāng)硅完全熔化后,將種子晶緩慢引入熔煉室,使其接觸到熔化的硅。當(dāng)種子晶接觸到熔化的硅后,硅會開始在種子晶上凝固,并沿著種子晶的晶格結(jié)構(gòu)生長,形成單晶硅。在這個過程中,需要緩慢提拉種子晶,使單晶硅持續(xù)生長。提拉速度的控制非常重要,過快或過慢都可能影響到單晶硅的質(zhì)量。


5,冷卻與檢驗當(dāng)單晶硅生長到適當(dāng)?shù)拇笮『?,熔爐的溫度會逐漸降低,使單晶硅慢慢冷卻。這個過程需要精確控制,因為過快的冷卻可能會引起硅晶體的內(nèi)部應(yīng)力,導(dǎo)致裂紋的產(chǎn)生。通常,冷卻過程會持續(xù)數(shù)小時甚至更長時間,以確保單晶硅的均勻冷卻。冷卻后的單晶硅棒需要進(jìn)行表面處理、質(zhì)量檢測和分類。


6,切片與拋光冷卻后的單晶硅錠需要切割成薄片,這些薄片就是我們常見的硅片,可以用于制造半導(dǎo)體器件。通常,切割過程使用一種叫做內(nèi)徑鋸的設(shè)備,它使用帶有磨料的細(xì)線來切割硅錠。這個過程需要精確控制,以確保硅片的均勻厚度和最小化硅片的損壞。切片后,硅片上會留有磨料和其他雜質(zhì),因此需要進(jìn)行清洗。通常,這個過程使用酸性溶液來去除硅片上的雜質(zhì),并清洗掉磨料。


清洗后,硅片的表面會進(jìn)行拋光,以達(dá)到超光滑的表面質(zhì)量。拋光過程通常使用化學(xué)機(jī)械拋光(CMP)的方法,這個方法同時使用化學(xué)腐蝕和機(jī)械磨擦來拋光硅片的表面。拋光后的硅片具有非常平滑的表面,有利于后續(xù)的半導(dǎo)體器件制造過程。在每個步驟之后,都需要進(jìn)行質(zhì)量檢測,以確保硅片滿足制造標(biāo)準(zhǔn)。常見的檢測方法包括X射線衍射、光學(xué)顯微鏡、電子顯微鏡等,用來檢測硅片的晶格結(jié)構(gòu)、晶格缺陷、雜質(zhì)含量等。此外,還會對硅片的電性能進(jìn)行測試,如載流子濃度、遷移率等。

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