MTBF可靠性指標(biāo)驗證,北京可靠性指標(biāo)檢測機(jī)構(gòu)，第三方測試機(jī)構(gòu)，出具國家認(rèn)可檢測報告，檢測試驗找儀綜所實驗室彭光瓊V一三六九一零九三五零三。MTBF英文全稱是“mean time between failures”，中文翻譯為平均故障間隔時間，是產(chǎn)品的一個可靠性測試指標(biāo)。MTBF衡量硬件產(chǎn)品或者組件的可靠性的度量度量指標(biāo)。對于大多數(shù)產(chǎn)品，尤其是電子產(chǎn)品平均故障間隔時間以千甚至數(shù)萬小時表示，MTBF越長表示可靠性越高，保持正確工作能力越強(qiáng)，單位為“小時”。通常也指相鄰兩次故障之間的平均工作時間，也稱為平均故障間隔。它僅適用于可維修產(chǎn)品（不可維修產(chǎn)品我們用MTTF定義）。當(dāng)產(chǎn)品的壽命服從指數(shù)分布時，失效率的倒數(shù)表示兩個失效之間的時間間隔。λ=1/MTBF。如：某產(chǎn)品SSD MTBF值標(biāo)稱為150萬小時，保修5年；150萬小時約為171年，并不是說該產(chǎn)品SSD每塊盤均能工作171年不出故障。由MTBF=1/λ可知λ=1/MTBF=1/171年，即該固態(tài)硬盤的平均年故障率約為0.6%，一年內(nèi)，平均1000塊固態(tài)硬盤可能有6塊會出故障。因此：MTBF是指可修復(fù)產(chǎn)品使用可靠性的數(shù)值要求，主要的計算方法是在規(guī)定的條件下和規(guī)定的時間內(nèi)，產(chǎn)品的壽命單位總數(shù)和故障總次數(shù)之比。是產(chǎn)品設(shè)計師在產(chǎn)品設(shè)計過程中參考的重要依據(jù)，目的是計算平均故障間隔來找出產(chǎn)品設(shè)計中的薄弱地方?？煽啃栽囼灅悠放_數(shù)的選擇：對于可靠性鑒定試驗-少的樣品為2臺，對于可靠性驗收試驗，每批次至少2臺，最多不超過20臺。
MTBF測試的目的：
1、對于高頻度故障零件的重點對策及延長零件壽命的技術(shù)改良依據(jù)。2、零件壽命周期的推定及最合適修理計劃的研究。3、有關(guān)點檢對象、項目的先定與點檢基準(zhǔn)的設(shè)定、改良。4、設(shè)定備品、備件基準(zhǔn)。機(jī)械、電氣零件的各項常備項目及基本庫存數(shù)量應(yīng)由MTBF的記錄分析來判斷，使其庫存達(dá)到最經(jīng)濟(jì)的狀況。?可靠性試驗的特點和分類電子設(shè)備的可靠性指標(biāo)是一些綜合性、統(tǒng)計性的指標(biāo)，與質(zhì)量性能指標(biāo)完全不同，不可能用儀表、儀器或其它手段得到結(jié)果，而是要通過試驗，從試驗的過程中取得必要的數(shù)據(jù)，然后通過數(shù)據(jù)分析，處理才能得到可靠性指標(biāo)的統(tǒng)計量?？煽啃灾笜?biāo)的實現(xiàn)主要依靠現(xiàn)場試驗或模擬現(xiàn)場條件試驗，一般說電子設(shè)備的可靠性試驗可以分為研制階段的試驗、可靠性驗收試驗、可靠性增長試驗、元器件老煉試驗、極限試驗、負(fù)荷及過負(fù)荷試驗、過載能力試驗等，這類試驗的目的是了解設(shè)計是否滿足了可靠性指標(biāo)的要求，找出或排除設(shè)計與制造過程中的缺限和不足，證明設(shè)計可靠性能否實現(xiàn)。對于不同的電子設(shè)備，所要達(dá)到的目的不同，可以進(jìn)行的可靠性試驗形式也就各異。因此可靠性試驗對于電子設(shè)備來說是一個系統(tǒng)工程，溫度、振動、沖擊及高溫壽命、加速壽命等試驗在實際應(yīng)用中較為廣泛。??MTBF測試原理

1.加速壽命試驗?(AcceleratedLife Testing)1.1?執(zhí)行壽命試驗的目的在于評估產(chǎn)品在既定環(huán)境下之使用壽命。1.2?常規(guī)試驗耗時較久，且需投入大量的金錢，而產(chǎn)品可靠度信息又不能及時獲得並加以改善。1.3?可在實驗室里里以加速壽命試驗的方法，在可接受的試驗時間里評估產(chǎn)品的使用壽命。1.4?是在物理與時間上，加速產(chǎn)品的劣化原因，以較短的時間試驗來推定產(chǎn)品在正常使用狀態(tài)的壽命或失效率。但基本條件是不能破壞原有設(shè)計特性。1.5?一般情況下,?加速壽命試驗考慮的三個要素是環(huán)境應(yīng)力，試驗樣本數(shù)和試驗時間。1.6?一般電子和通訊業(yè)的零件可靠度模式及加速模式幾乎都可以從美軍規(guī)范或相關(guān)文獻(xiàn)查得，也可自行試驗分析，獲得其數(shù)學(xué)經(jīng)驗公式。1.7?如果溫度是產(chǎn)品唯一的加速因素，則可采用阿氏模型(Arrhenius Model)，此模式最為常用。1.8?引進(jìn)溫度以外的應(yīng)力，如濕度、電壓、機(jī)械應(yīng)力等，則為艾林模型(Eyring Model)，此種模式適用的產(chǎn)品包括電燈、液晶顯示元件、電容器等。1.9反乘冪法則(Inverse PowerLaw)適用于金屬和非金屬材料，如軸承和電子裝備等。1.10?復(fù)合模式(CombinationModel)適用于同時考慮溫度與電壓作為環(huán)境應(yīng)力的電子材料(如電容如下式為電解電容器壽命計算公式)

1.11?一般情況下，主動電子零件完全適用阿氏模型，而電子和通訊類成品也可適用阿氏模型，原因是成品類的失效模式是由大部分主動式電子零件所構(gòu)成。因此，阿氏模型廣泛應(yīng)用于電子、通訊行業(yè)。?2.?阿氏模型的加速因子2.1?阿氏模型起源于瑞典物理化學(xué)家SvandteArrhenius 1887年提出的阿氏反應(yīng)方程式。

?????R:反應(yīng)速度?speed of reaction?????A:?溫度常數(shù)?a unknown non-thermal constant??????EA:?活化能?activation energy (eV)?????K: Boltzmann常數(shù)，等于8.623*10-5?eV/0K.?????T:?為絕對溫度(Kelvin)?? 2.2??加速因子????加速因子即為產(chǎn)品在使用條件下的壽命(Luse)和高測試應(yīng)力條件下(Laccelerated)的壽命的比值。

??如果產(chǎn)品壽命適用于阿氏模型，則其加速因子為:

Ts:?室溫+常數(shù)273Tu:?高溫+常數(shù)273K: ?Boltzmann常數(shù)，等于8.623*10-5eV/0K.2.3?加速因子中活化能Ea的計算2.3.1?一般電子產(chǎn)品在早夭期失效之Ea為0.2~0.6Ev，正常有用期失效之Ea趨近于1.0Ev；衰老期失效之Ea大于1.0Ev。2.3.2?根據(jù)?HP?可靠度工程部(CRE)的測試規(guī)范，Ea是產(chǎn)品所有零件Ea的平均值。如果新產(chǎn)品的Ea無法計算，可以將Ea設(shè)為0.67Ev，做常數(shù)處理。2.3.3?但是，Dell和Motorola產(chǎn)品的Ea因客戶有特殊要求須設(shè)為0.6Ev。2.3.4?如按設(shè)備所有零件Ea的平均值來計算，則可按以以例證參考進(jìn)行。

注:對各類電子零部件其Ev值可按上述參考值進(jìn)行計算