科學(xué)指南針-粒度測試不同方法的對比
粒度測試不同方法的對比
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(1)激光法:優(yōu)點(diǎn):操作簡便,測試速度快,測試范圍大,重復(fù)性和準(zhǔn)確性好,可實(shí)現(xiàn)在線測量和干法測量。缺點(diǎn):分辨力較低。
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(2)動態(tài)圖像法:優(yōu)點(diǎn):操作簡便、拍攝與分析速度快、重復(fù)性和準(zhǔn)確性好,可測量最大顆粒,可進(jìn)行圓形度、長徑比等形貌分析。缺點(diǎn):不能分析細(xì)顆粒(如<2um),儀器成本較高。
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(3)靜態(tài)圖像法:優(yōu)點(diǎn):成本較低、圖像清晰、可進(jìn)行圓形度、長徑比等形貌分析。缺點(diǎn):操作復(fù)雜,分析速度慢,無法分析細(xì)顆粒(如<2um)。
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(4)電鏡法:優(yōu)點(diǎn):能精確分析納米顆粒和超細(xì)顆粒的粒度和形貌,圖像清晰,表面紋理可見,分辨率高,是表征納米顆粒粒度的標(biāo)準(zhǔn)方法。缺點(diǎn):代表性差、儀器價(jià)格昂貴。
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(5)光阻法:優(yōu)點(diǎn):測試速度快,可測液體或氣體中低濃度顆粒數(shù),分辨力高,樣品用量少。缺點(diǎn):進(jìn)樣系統(tǒng)比較復(fù)雜,不適用納米的樣品。
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(6)電阻法:優(yōu)點(diǎn):操作簡便,可測顆粒數(shù),等效概念明確,速度快,準(zhǔn)確性好。缺點(diǎn):不適合測量超細(xì)樣品和寬分布樣品。
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(7)沉降法:優(yōu)點(diǎn):操作簡便,儀器可以連續(xù)運(yùn)行,價(jià)格較低。缺點(diǎn):測試時(shí)間較長,操作復(fù)雜。
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(8)篩分法:優(yōu)點(diǎn):簡單、直觀、設(shè)備造價(jià)低,常用于大于38μm(400目)的品。缺點(diǎn):不能用于超細(xì)樣品;結(jié)果受人為因素和篩孔變形影響較大。
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(9)動態(tài)光散射法:優(yōu)點(diǎn):測試速度快,重復(fù)性好,操作簡便。缺點(diǎn):測試寬分布的納米材料誤差較大。
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(10)超聲波法:優(yōu)點(diǎn):可對高濃度漿料直接現(xiàn)場測量,無需稀釋樣品。缺點(diǎn):分辨率較低,結(jié)果受環(huán)境因素影響較大。
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