在做TOF-SIMS測(cè)試時(shí)，科學(xué)指南針檢測(cè)平臺(tái)工作人員在與很多同學(xué)溝通中了解到，好多同學(xué)對(duì)此項(xiàng)目不太了解，針對(duì)此，科學(xué)指南針檢測(cè)平臺(tái)組織相關(guān)同事對(duì)TOF-SIMS測(cè)試進(jìn)行問(wèn)題收集并整理，希望可以幫助到科研圈的伙伴們；

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1.DSIMS深度分辨率為什么高于SSIMS？
回復(fù)：D-SIMS采用DC模式的離子源，深度剖析時(shí)分析和濺射同時(shí)進(jìn)行，對(duì)表面是連續(xù)深度作用的過(guò)程，成分從表面到深度的信息是連續(xù)采集。而SSIMS采用脈沖模式，深度剖析時(shí)分析和濺射交替進(jìn)行，從表面的到深度的分析不是連續(xù)的過(guò)程，濺射除去的深度部分的成分信息沒(méi)有被收集到，因此深度分辨率是D-SIMS優(yōu)于S-SIMS，見以下示意圖：

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2.?可以測(cè)三維mapping嗎？
回復(fù)：可以得到3-D成像，如以下圖示：?

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3.鋼鐵材料表面氧化層，不同層深的檢測(cè)如何做？
回復(fù)：采用TOF-SIMS深度剖析模式進(jìn)行分析。

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4.深度剖析過(guò)渡層信息可信嗎，總有回跳？
回復(fù)：第一看儀器測(cè)試條件的穩(wěn)定性如何？（totalion/以及其它特征離子是不是都有回跳？如果都有回跳，可能是測(cè)試條件不穩(wěn)定），如果只是特別元素回跳而其它離子比較正常，那很可能是真實(shí)的界面擴(kuò)散。還有就是基體效應(yīng)的影響?？傊€是要看實(shí)際情況而定。

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5.分析有機(jī)基團(tuán)與金屬離子的測(cè)試條件相同嗎？
回復(fù)：通常采用Bi3++可以同時(shí)分析有機(jī)集團(tuán)和金屬離子。

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6.TOF-SIMS可以測(cè)液固界面的變化嗎？對(duì)液相pH有要求嗎？
回復(fù)：液體樣品必須干燥和冷凍后才能用TOF-SIMS進(jìn)行分析。對(duì)pH值沒(méi)有要求。

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7.TOF-SIMS測(cè)試多層膜層，怎樣判各層？
回復(fù)：多層厚膜，可以用CP/FIB加工斷面，直接測(cè)試斷面的方法，然后采用每個(gè)膜層成分的特征離子來(lái)判斷各層的分布，先掃描的方式區(qū)分不同膜層。如果多層薄膜（納米級(jí)尺度），用深度剖析方法，然后采用每個(gè)膜層成分的特征離子來(lái)判斷各層的深度分布，用深度剖析曲線或3D圖呈現(xiàn)不同結(jié)構(gòu)。

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8.N元素應(yīng)該什么模式可以測(cè)試？正離子還是負(fù)？
回復(fù)：通常N原子離子很難表征，需要用NH4，CN，CNO，CNS這些離子來(lái)判斷N的存在與否，NH4離子是在正離子模式出峰，而CN，CNO，CNS在負(fù)離子模式出峰。

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9.EAG哪個(gè)圖在哪里找啊?
回復(fù)：網(wǎng)站資源https://www.eag.com/

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10.老師如果我想檢測(cè)表面氧的變化，那怎么定量？
回復(fù)：定量需要標(biāo)準(zhǔn)樣品，但可以根據(jù)O譜峰強(qiáng)度的變化來(lái)表征含量的變化。

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11.金屬材料表層氧化層分析怎么做好些？
回復(fù)：深度剖析的方法。用金屬氧化物的離子和O的離子從表面到深度強(qiáng)度的變化表征氧化層。

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12.我想問(wèn)下樣品制備有什么要求嗎？
回復(fù)：樣品越小越好：最好小于1CMX1CM，越平整越好，真空兼容，測(cè)試表面不要觸碰包裝材料，粉末用干凈玻璃瓶盛裝，固體樣品可以用鋁箔紙包裝后再放入盒子或袋子里比較好。

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13.如何解析未知的譜圖，有方法嗎。如何解析未知譜峰，有技巧嗎？
回復(fù)：先校正譜峰、元素識(shí)別、小分子識(shí)別到大分子判斷。有機(jī)組分需要參考數(shù)據(jù)庫(kù)里的標(biāo)準(zhǔn)圖譜等等。

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14.表面氧動(dòng)態(tài)變化是nano還是tof更好呢？
回復(fù)：表面分析用TOF比較好，可以成像和采譜。

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15.想請(qǐng)問(wèn)老師儀器參數(shù)中質(zhì)量分辨率是什么概念？
回復(fù)：質(zhì)量分辨率：m/?m，代表區(qū)分不同質(zhì)量的能力，這個(gè)數(shù)值越大說(shuō)明質(zhì)量分辨能力越好，對(duì)成分的定性越準(zhǔn)確。

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16.TOF-SIMS的離子強(qiáng)度是否可以定性？
回復(fù)：離子強(qiáng)度通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)樣品可以定量，定性看譜峰的荷質(zhì)比（m/z）。

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