在做原子力顯微鏡AFM測(cè)試時(shí)，科學(xué)指南針檢測(cè)平臺(tái)工作人員在與很多同學(xué)溝通中了解到，好多同學(xué)對(duì)AFM測(cè)試原子力顯微鏡功能技術(shù)不太了解，針對(duì)此，科學(xué)指南針檢測(cè)平臺(tái)團(tuán)隊(duì)組織相關(guān)同事對(duì)網(wǎng)上海量知識(shí)進(jìn)行整理，希望可以幫助到科研圈的伙伴們；

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相位式原子力顯微鏡

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原子力顯微鏡在輕敲式AFM(tappingmode)操作下，量測(cè)及回饋因表面抵擋及黏滯力的作用，會(huì)引起振動(dòng)探針的相位改變量，而抵擋及黏滯力的差異為不同材料性質(zhì)引起，因此有機(jī)會(huì)用相位差(Phaselag)來(lái)觀察表面定性材質(zhì)分布狀況。因相位改變量比起振幅改變量來(lái)得敏感，可較易觀察平面分布。在操作控制探針與表面的交互作用力上，可使用LightTapping方式(較少力量)達(dá)到非破壞性分析，也可使用HardTapping方式(較大力量)達(dá)到穿透性，量測(cè)及回饋次表面特性，尤其對(duì)高分子聚合物及生物分子樣品有非常好的性質(zhì)觀察。因?yàn)槔锰结樚鴦?dòng)掃描時(shí)表面的高度變化會(huì)影響振幅的大小，所以利用振幅變化可以得知表面的結(jié)構(gòu)，但是當(dāng)表面的成分不同時(shí)也會(huì)造成探針跳動(dòng)頻率變化，以及相位變化，例如當(dāng)表面有些區(qū)域的性質(zhì)特別軟，造成探針再此區(qū)域掃描時(shí)跳動(dòng)的頻率變慢，且會(huì)產(chǎn)生一相位差，所以利用此一特性讓掃描探針顯微鏡能觀察到除了表面形貌之外的不同成份性質(zhì)，如圖1所示。

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圖1相位原子力顯微鏡分析表面不同成份影像變化?

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掃描式磁場(chǎng)力顯微鏡

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掃描式磁場(chǎng)力顯微鏡利用具磁性的探針(Si)鍍上一層磁性Co-Cr合金，第一次掃描時(shí)TappingModeAFM的振幅用來(lái)量測(cè)表面高低，分辨率約20～50nm。在Lift第二次掃描時(shí)，振幅受現(xiàn)有磁場(chǎng)變化，依Lift提升高度而變更，可為雷射光偵測(cè)器得知，此差異訊號(hào)可用來(lái)判斷表面磁場(chǎng)分布，最容易同時(shí)得到AFM及磁場(chǎng)分布影像，但是磁場(chǎng)大小卻無(wú)法得知。TappingMode和LiftMode的操作應(yīng)用，掃描前必須探針磁化，然后先以TappingMode取得高度變化的影像，然后再利用LiftMode量測(cè)存在表面上方的磁場(chǎng)分布，因?yàn)樘结樢呀?jīng)經(jīng)過(guò)磁化所以在表面上方掃描時(shí)只會(huì)感應(yīng)有磁場(chǎng)的區(qū)域，如圖2。由于樣品磁場(chǎng)大小有不一樣的特性，不能使用具強(qiáng)磁性的探針去掃描軟磁性的樣品，否則樣品磁場(chǎng)會(huì)被強(qiáng)磁性的探針?biāo)蓴_，造成一堆雜亂訊號(hào)。

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圖2掃描式磁場(chǎng)力顯微鏡磁場(chǎng)分布影像

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以上就是科學(xué)指南針檢測(cè)平臺(tái)對(duì)網(wǎng)絡(luò)上相關(guān)資料的整理如有測(cè)試需求，可以和科學(xué)指南針聯(lián)系，我們會(huì)給與您最準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)和最好的服務(wù)體驗(yàn)，希望可以在大家的科研路上有所幫助。

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