Process corner
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Process Corner
晶體管模型要保證有足夠高的良率但又不能過于悲觀。
對(duì)晶體管建模的目的是使得晶體管的表現(xiàn)接近于真實(shí)情況,剔除悲觀。

02
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什么是SSG/FFG corner?
在非先進(jìn)工藝中,local variation對(duì)器件的影響比global variation的影響小很多,而在先進(jìn)工藝下,local variation變得越來越重要。
在非先進(jìn)工藝下,k-lib時(shí)一般會(huì)將local variatin和global variation同時(shí)考慮,STA分析時(shí)使用warst-case模型:ss和ff corner,ss corner中只包含early derate,ff corner只包含late derate。
在先進(jìn)工藝下,local variation占比越來越大,如果使用warst-case模型則過于悲觀,所以在k-lib時(shí),只考慮global variation,local variation用統(tǒng)計(jì)學(xué)方法(OCV)進(jìn)行補(bǔ)償,這種方法對(duì)應(yīng)的corner即為ssg corner和ffg corner。

03
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什么是GNP Corner?
當(dāng)NMOS與PMOS的global variation關(guān)系很弱時(shí)(R^2<0.3),與單個(gè)NMOS或者PMOS的3 sigma variation相比(下圖中黑色虛線),NMOS-PMOS Pair有效3 sigma variation(下圖中粉色虛線)可以看到有明顯的降低。但需要注意的是,不能將R^2增加的太大,這會(huì)超過silicon數(shù)據(jù)范圍。

04
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Monte Carlo?仿真
Monte-Carlo仿真:在隨機(jī)采樣基礎(chǔ)上計(jì)算得到近似結(jié)果,隨機(jī)采樣越多,得到正確結(jié)果的概率越大,但在獲得真正結(jié)果之前無法得知目前的結(jié)果是不是真實(shí)結(jié)果。其核心思路是:盡量找最好的,但不能保證是最好的。例如從100個(gè)蘋果中依次取出一個(gè),得到最大的那個(gè)蘋果。
Las-Vegas仿真:隨著采樣次數(shù)增加,得到正確概率增加,如果隨機(jī)采樣過程中已經(jīng)找到正確結(jié)果,則返回正確結(jié)果。其核心思路是:盡量找正確結(jié)果,但不能保證找到。例如從100把鑰匙中找到可以打開鎖的那一把。
Monte-Carlo仿真通過高斯分布來模擬global variation和local variation。
Total Monte-Carlo:?TT with global?gaussian and local?gaussian.

Local Monte-Carlo: SSG/FFG with local?gaussian as signoff golden.

Local Monte-Carlo?only:?no global variation