加速試驗:統(tǒng)計模型、試驗設(shè)計與數(shù)據(jù)分析
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可靠性是產(chǎn)品質(zhì)量和競爭力的重要保障,可靠性試驗是保證和評估產(chǎn)品可靠性的有效手段。加速試驗是通過提高試驗應(yīng)力水平來縮短試驗周期的一種可靠性試驗方法,它使長壽命產(chǎn)品的可靠性評定成為可能。
《加速試驗:統(tǒng)計模型、試驗設(shè)計與數(shù)據(jù)分析》是美國可靠性領(lǐng)域著名專家Wayne B.Nelson博士撰寫的關(guān)于加速試驗設(shè)計與數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析方面的經(jīng)典著作,系統(tǒng)介紹了加速試驗的統(tǒng)計模型、試驗方案設(shè)計方法和數(shù)據(jù)分析方法,并給出了大量的相關(guān)實例。該書有助于開展更高效的加速試驗,獲取更有效、準(zhǔn)確的信息。
《加速試驗:統(tǒng)計模型、試驗設(shè)計與數(shù)據(jù)分析》不僅適用于可靠性工程師、統(tǒng)計人員,以及在產(chǎn)品的設(shè)計、研發(fā)、試驗、制造、質(zhì)量控制等過程中使用加速試驗的工程技術(shù)人員,對高校教學(xué)和科研人員也有一定的參考價值。
作者簡介
Warne B.Nelson博士是加速試驗數(shù)據(jù)和可靠性統(tǒng)計分析領(lǐng)域主要的專家之一。他目前擔(dān)任多家公司的顧問,針對統(tǒng)計方法的不同工程和科研應(yīng)用為企業(yè)提供咨詢,開發(fā)了新的統(tǒng)計方法和計算機程序。Nelson博士為企業(yè)、高校和專業(yè)協(xié)會提供講學(xué)、培訓(xùn)和研討;Nelson博士還是一名鑒定人,并曾在通用電氣公司研發(fā)部門從事應(yīng)用咨詢25年。
鑒于他在可靠性、加速試驗方面的貢獻(xiàn),Nelson博士被選為美國統(tǒng)計協(xié)會會員(1973)、美國質(zhì)量協(xié)會會員(1983)以及電氣與電子工程師學(xué)會(IEEE)會員(1988)。由于他在產(chǎn)品可靠性與加速試驗數(shù)據(jù)統(tǒng)計方法開發(fā)與應(yīng)用方面的突出貢獻(xiàn),通用電氣公司研發(fā)部為他頒發(fā)了1981年度Dushman獎。美國質(zhì)量協(xié)會為表彰他杰出的技術(shù)領(lǐng)導(dǎo)與創(chuàng)新發(fā)展能力而授予他2003年度Shewhart獎。
Nelson博士已發(fā)表統(tǒng)計方法方面的學(xué)術(shù)論文120余篇,其中大部分都是關(guān)于工程應(yīng)用的。由于發(fā)表的論文,他曾獲1969年度Brumbaugh獎、1970年度Youden獎和1972年度Wilcoxon獎,以及所有美國質(zhì)量協(xié)會的獎項。ASA為表彰他在國家聯(lián)合統(tǒng)計會議上發(fā)表的高水平論文,已經(jīng)授予他8次杰出表現(xiàn)獎。
1990年,他獲得一個NIST/ASA/NSF高級研究獎學(xué)金資助,在美國國家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究所合作研究微電子的電遷移失效模型。2001年,受Fulbright獎資助,他在阿根廷從事可靠性數(shù)據(jù)分析的研究和講學(xué)工作。
1982年,Nelson博士完成專著Applied Lfe Data Analysis的撰寫,并由Wiley出版社出版發(fā)行;1988年該書由日本科學(xué)家和工程師聯(lián)合會翻譯成日語出版。1990年,Wiley 出版社出版了他的標(biāo)志性著作Accelerated Testing:Statistical Models,Test Plans,and Data Analyses。2003年,ASA-SIAM出版了他的著作Recurrent Events Data Analysis for Product Repairs,Disease Episodes,and Other Applications。他還參與了多本教科書和指導(dǎo)手冊的編寫,并為工程協(xié)會的標(biāo)準(zhǔn)建立做出了貢獻(xiàn)。