1.做TEM測(cè)試時(shí)樣品的厚度最厚是多少?

TEM的樣品厚度最好小于100nm，太厚了電子束不易透過(guò)，分析效果不好，而SEM對(duì)樣品的厚度要求不高。

2.請(qǐng)問(wèn)樣品的的穿晶斷裂和沿晶斷裂在SEM圖片上有各有什么明顯的特征?

在SEM圖片中，沿晶斷裂可以清楚地看到裂紋是沿著晶界展開(kāi)，且晶粒晶界明顯;穿晶斷裂則是裂紋在晶粒中展開(kāi)，晶粒晶界都較模糊。

3.做SEM測(cè)試時(shí)樣品有什么要求?

很簡(jiǎn)單，只要不含水分就行。如果樣品為溶液，則樣品需要滴在一定的基板上(如玻璃)，然后干燥，再噴碳或噴金就可以了。如果樣品本身導(dǎo)電就無(wú)需噴碳。

4.水溶液中的納米粒子如何做TEM?

透射電鏡樣品必須在高真空中下檢測(cè)，水溶液中的納米粒子不能直接測(cè)。一般用一個(gè)微柵或銅網(wǎng)，把樣品撈起來(lái)，然后放在樣品預(yù)抽器中，烘干即可放入電鏡里面測(cè)試。如果樣品的尺寸很小，只有幾個(gè)納米，選用無(wú)孔的碳膜來(lái)?yè)茦悠芳纯伞?/p>

5.粉末狀樣品怎么做SEM?

掃描電鏡測(cè)試中粉末樣品的制備多采用雙面膠干法制樣，和選用合適的溶液超聲波濕法制樣。分散劑在掃描電鏡的樣品制備中效果并不明顯，有時(shí)會(huì)帶來(lái)相反的作用，如干燥時(shí)析晶等。

6.EDS與XPS測(cè)試時(shí)采樣深度的差別?

XPS采樣深度為2-5nm，EDS采樣深度大約1um，對(duì)于不同的樣品采樣深度有區(qū)別，金屬樣品采樣深度較淺。

7.能譜，有的叫EDS，也有的叫EDX，到底哪個(gè)更合適一些?

能譜的全稱是：Energy-dispersive X-ray spectroscopy 國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化術(shù)語(yǔ):EDS-能譜儀 EDX-能譜學(xué)

8.TEM用銅網(wǎng)的孔洞尺寸多大?

粉體常用的有碳支持膜和小孔微柵，小孔微柵上其實(shí)也有一層超薄的碳膜。拍高分辨的，試樣的厚度最好要控制在20 nm以下，所以一般直徑小于20nm的粉體才直接撈，顆粒再大的話最好是包埋后離子減薄。

9.在透射電鏡上觀察到納米晶,在納米晶的周圍有非晶態(tài)的區(qū)域,我想對(duì)非晶態(tài)的區(qū)域升溫或者給予一定的電壓(電流),使其發(fā)生變化,原位觀察起變化情況?

用原子力顯微鏡應(yīng)該可以解決這個(gè)問(wèn)題。

10.Mg-Al合金怎么做SEM，二次電子的?

這種樣品的正確測(cè)法應(yīng)該是先拋光，再腐蝕。若有蒸發(fā)現(xiàn)象，可以在樣品表面渡上一層金。

11.陶瓷的TEM試樣要怎么制作?

切片、打磨、離子減薄、FIB。

12.透射電子顯微鏡在高分子材料研究中的應(yīng)用方面的資料?

殷敬華莫志深 主編 《現(xiàn)代高分子物理學(xué)》(下冊(cè)) 北京：科學(xué)出版社，2001[第十八章 電子顯微鏡在聚合物結(jié)構(gòu)研究中的應(yīng)用]

13.SEM如何看氧化層的厚度?

通過(guò)掃描電鏡看試樣氧化層的厚度，直接掰開(kāi)看斷面，這樣準(zhǔn)確嗎?通過(guò)掃描電鏡看試樣氧化層的厚度，如果是玻璃或陶瓷這樣直接掰開(kāi)看斷面是可以的;如果是金屬材料可能在切割時(shí)，樣品結(jié)構(gòu)發(fā)生變化就不行了，所以要看是什么材料的氧化層。

14.TEM對(duì)微晶玻璃的制樣要求

先磨薄片厚度小于500um,再到中心透射電鏡制樣室進(jìn)行釘薄，然后離子減薄。

15.研究表面活性劑形成的囊泡，很多文獻(xiàn)都用cryoTEM做，形態(tài)的確很清晰，但所里只能作負(fù)染，能很好的看出囊泡的壁嗎?

高分子樣品在電子束下結(jié)構(gòu)容易破壞，用冷凍臺(tái)是最好的方式。做負(fù)染是可以看到壁的輪廓，但是如果要細(xì)致觀察，沒(méi)有冷凍臺(tái)大概不行吧?我看過(guò)的高分子樣品都是看看輪廓就已經(jīng)很滿意了，從來(lái)沒(méi)有提到過(guò)更高要求的。

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