在制備透射電子顯微鏡（TEM測試）薄膜樣品時，科學(xué)指南針檢測平臺工作人員在與很多同學(xué)溝通中了解到，大多數(shù)同學(xué)沒有太好的處理薄膜樣品的方法，針對此，科學(xué)指南針檢測平臺團(tuán)隊(duì)組織相關(guān)同事對網(wǎng)上海量知識進(jìn)行整理，希望可以幫助到科研圈的伙伴們；

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TEM制樣時，為了確保樣品能夠搭載在載網(wǎng)上，會在載網(wǎng)上覆蓋一層有機(jī)膜，稱為支持膜。樣品接觸載網(wǎng)支持膜時，會很牢固的吸附在支持膜上，不至于從載網(wǎng)的空洞處滑落，以便在電鏡上觀察。在支持膜上噴碳提高支持膜的導(dǎo)電性，達(dá)到良好的導(dǎo)電效果。

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普通碳膜：膜厚度為7-10納米。銅網(wǎng)噴碳的支持膜，有時簡稱：銅網(wǎng) (支持膜)，方華膜.

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微柵：膜厚度為15-20納米，在膜上制作出微孔，以便使樣品搭載在微孔邊緣，使樣品“無膜”觀察，提高圖象襯度。觀察管狀、棒狀、納米團(tuán)聚物效果好，特別是觀察這些樣品的高分辨像時更是最佳選擇。

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超薄碳膜：在微柵的基礎(chǔ)上疊加了一層很薄的碳膜，一般為3-5納米。這層超薄碳膜的目的是用超薄碳膜把微孔堵住。主要針對分散性很好的納米材料。如10納米以下分散性很好的納米材料，如果用微柵可能從微孔中漏出，如果在微柵孔邊緣，由于膜厚可能會影響觀察。所以用超薄碳膜就會得到很好的效果。

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以上就是科學(xué)指南針檢測平臺對網(wǎng)絡(luò)上tem相關(guān)資料的整理如有測試需求，可以和科學(xué)指南針聯(lián)系，我們會給與您最準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)和最好的服務(wù)體驗(yàn)，希望可以在大家的科研路上有所幫助。

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