1、低溫試驗

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫GB/T2423.1-2008

2、高溫試驗

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫GB/T2423.2-2008

3、恒定濕熱試驗

環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cab：恒定濕熱試驗 GB/T 2423.3-2016

4、交變濕熱（12h+12h循環(huán)）

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Db：交變濕熱（12h+12h循環(huán)）GB/T

2423.4-2008

5、沖擊試驗

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ea和導則：沖擊GB/T2423.5-1995

6、碰撞試驗

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法試驗Eb和導則：碰撞GB/T2423.6-1995

7、傾跌與翻倒試驗

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ec和導則：傾跌與翻倒（主要用于設(shè)備型樣品）GB/T 2423.7-1995

8、自由跌落試驗

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法試驗Ed：自由跌落GB/T2423.8-1995

9、振動（正弦）試驗

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Fc：振動（正弦）GB/T2423.10-2008

10、振動混合模式

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Fi：振動混合模式GB/T2423.58-2008

11、鹽霧試驗

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ka：鹽霧GB/T2423.17-2008

12、鹽霧，交變（氯化鈉溶液）

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Kb：鹽霧，交變（氯化鈉溶液）GB/T

2423.18-2012

13、溫度變化試驗

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化GB/T2423.22-2012

14、寬帶隨機振動（數(shù)字控制）

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Fh：寬帶隨機振動（數(shù)字控制）和導則

GB/T 2423.56-2006

15、可靠性試驗

設(shè)備可靠性試驗恒定失效率假設(shè)下的失效率與平均無故障時間的驗證試驗方案GB/T

5080.7-1986

16、低氣壓試驗

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗M：低氣壓GB/T2423.21-2008

深圳安車昇輝檢測環(huán)境實驗室是一個從事電工電子產(chǎn)品與軍用設(shè)備、軌道交通、核電站設(shè)備、電力（含風力發(fā)電）設(shè)備、汽車、家電、運輸包裝件等領(lǐng)域產(chǎn)品的環(huán)境適應性和可靠性檢測綜合實驗室