安捷倫4155A 4155B 4155C 4156A 4156B 4156C 半導(dǎo)體參數(shù)分析儀? ?

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4156B 是安捷倫的半導(dǎo)體參數(shù)分析儀。半導(dǎo)體參數(shù)分析儀是用于各種測量功能的多合一工具。半導(dǎo)體參數(shù)分析儀可以測量和分析多種電子設(shè)備、材料、有源或無源元件、半導(dǎo)體或任何其他類型的電子設(shè)備的電氣特性。工程師使用這臺測試設(shè)備來監(jiān)測不同類型設(shè)備中的電流和電壓響應(yīng)。附加的功能：

高分辨率/準(zhǔn)確度和寬范圍。I：1 fA 至 1 A（20 fA 偏移精度），V：1μV 至 200 V

采用直流或脈沖模式的全自動(dòng) IV 掃描測量，可擴(kuò)展至 6 個(gè) SMU

同步應(yīng)力/測量功能，兩個(gè)高壓脈沖發(fā)生器單元 (±40 V)

時(shí)域測量：60μs – 可變間隔，最多 10,001 個(gè)點(diǎn)

易于使用：類似于曲線跟蹤器的旋鈕掃描，自動(dòng)分析功能

自動(dòng)化：內(nèi)置 HP Instrument BASIC、觸發(fā) I/O 功能

設(shè)置測量和/或壓力條件

控制測量和/或壓力執(zhí)行

執(zhí)行算術(shù)計(jì)算

在 LCD 顯示屏上顯示測量和計(jì)算結(jié)果

執(zhí)行圖形分析

存儲和調(diào)用測量設(shè)置，以及測量和圖形顯示數(shù)據(jù)

轉(zhuǎn)儲到打印機(jī)或繪圖儀以進(jìn)行硬拷貝輸出

使用內(nèi)置的 HP Instrument BASIC 執(zhí)行測量和分析

自檢、自動(dòng)校準(zhǔn)

Agilent HP 4156B 是下一代精密半導(dǎo)體參數(shù)分析儀。您將獲得最好的數(shù)字掃描參數(shù)分析儀、可靠性測試儀、功能強(qiáng)大的故障分析工具和自動(dòng)進(jìn)貨檢測站，所有這些都集成在一臺儀器中。

? ?這個(gè)新系列經(jīng)過明確設(shè)計(jì)，旨在為評估您的亞微米幾何器件提供前所未有的精度和功能。使用一臺靈活的儀器，您可以從材料評估和器件表征一直到最終封裝部件檢查和現(xiàn)場故障分析，提高您的半導(dǎo)體質(zhì)量。

較高的低電流、低電壓分辨率和內(nèi)置準(zhǔn)靜態(tài)CV測量能力，4156B還為以后和其他的測量儀器的擴(kuò)展使用提供了堅(jiān)實(shí)的基礎(chǔ)。4156B是基于PC的參數(shù)分析和表征的解決方案，標(biāo)準(zhǔn)配置包括一個(gè)參數(shù)分析儀，Agilent I/CV 3.0 Lite自動(dòng)測試軟件， Windows XP Professional的操作系統(tǒng)。I/CV 3.0 Lite軟件可以提供一個(gè)圖形操作界面，具有強(qiáng)大的分析工具，探針臺驅(qū)動(dòng)，和自動(dòng)測試工具特性· 4156B提供4個(gè)內(nèi)置的高分辨率的源/監(jiān)控單元（HPSMUs），兩個(gè)電壓源單元（VSUs）和兩個(gè)電壓監(jiān)控單元（VMUs）· 1 fA 和0.2 uV的測試精度可滿足開發(fā)新工技術(shù)和評價(jià)材料· 全Kelvin，每個(gè)HRSMU有激勵(lì)源、感應(yīng)和接地端· 完成準(zhǔn)靜態(tài)的電容對電壓測試· 自動(dòng)提取處理參數(shù)而不需要人工操作屏幕光標(biāo)· 用極低泄漏的SMUs測量泄露特性· 用集成的脈沖發(fā)生器和選擇開關(guān)自動(dòng)完成器件表征· 用內(nèi)置的應(yīng)力模式完成晶片的可靠性測試· 用圖形用戶界面完成點(diǎn)擊”測試· 基于Windows環(huán)境的圖形數(shù)據(jù)分析能力· 旋鈕掃描功能可以快速檢驗(yàn)探針是否接觸正?！?待機(jī)模式不需要外部電源· 觸發(fā)模式可以同步AC/DC測試。

產(chǎn)品概述

Agilent 4156B / HP 4156B 精密半導(dǎo)體參數(shù)分析儀是用于器件表征的高精度單元。4156B 卓越的低電流和低電壓分辨率以及內(nèi)置的準(zhǔn)靜態(tài) CV 測量能力為未來與其他測量儀器的擴(kuò)展奠定了堅(jiān)實(shí)的基礎(chǔ)。該裝置配有四個(gè)電源/監(jiān)控器單元、兩個(gè)電壓監(jiān)控器單元和兩個(gè)電壓源單元

HRSMU：高分辨率 SMU（1fA/2mV 至 100mA/100V）

設(shè)置測量和/或壓力條件

控制測量和/或壓力執(zhí)行

執(zhí)行算術(shù)計(jì)算

在 LCD 顯示屏上顯示測量和計(jì)算結(jié)果

執(zhí)行圖形分析

轉(zhuǎn)儲到打印機(jī)或繪圖儀以進(jìn)行硬拷貝輸出

自檢、自動(dòng)校準(zhǔn)

使用內(nèi)置 HP Instrument B 進(jìn)行測量和分析

四個(gè)內(nèi)置高分辨率源/監(jiān)視器單元、兩個(gè)電壓源單元和兩個(gè)電壓監(jiān)視器單元 ASIC

存儲和調(diào)用測量設(shè)置，以及測量和圖形顯示數(shù)據(jù)