實(shí)驗(yàn)名稱：功率放大器在周邊視場(chǎng)光譜光視效率的實(shí)驗(yàn)研究中的應(yīng)用

實(shí)驗(yàn)?zāi)康模夯诋惿W爍光度法，以單色LED為光源搭建了測(cè)量人眼光譜光視效率函數(shù)空間分布特性的實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)。

實(shí)驗(yàn)設(shè)備：波形發(fā)生器，功率放大器ATA-4011，精密穩(wěn)流電源，探測(cè)器等。

實(shí)驗(yàn)過(guò)程：

1.實(shí)驗(yàn)原理：

實(shí)驗(yàn)采用異色閃爍光度法?測(cè)量明視覺(jué)下的V(λ)函數(shù)值。實(shí)驗(yàn)中，兩種不同波長(zhǎng)的單色光視目標(biāo)以25 Hz的頻率交替閃爍，照明同一視場(chǎng)范圍，其中波長(zhǎng)和亮度均固定的為參考光，亮度可調(diào)的為某一波長(zhǎng)的待測(cè)光，參考光和待測(cè)光的閃爍頻率相同，相位相反(相位差180°)。實(shí)驗(yàn)中調(diào)節(jié)待測(cè)光的亮度，當(dāng)被試觀察到視目標(biāo)閃爍消失或閃爍感知最小時(shí)，認(rèn)為此時(shí)的參考光和待測(cè)光亮度相等。

2.實(shí)驗(yàn)裝置：

本實(shí)驗(yàn)創(chuàng)新性地采用單色LED作為刺激光源，不僅比較容易達(dá)到目標(biāo)所需的亮度值，以及光功率的精密調(diào)節(jié)，配合波形發(fā)生器和功率放大器也更能精確地實(shí)現(xiàn)參考光和待測(cè)光的180°相位差。

?

?

實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖

?

?

實(shí)驗(yàn)環(huán)境?

在黑暗的實(shí)驗(yàn)環(huán)境中打開(kāi)背景光適應(yīng)場(chǎng)，設(shè)置背景亮度為318.5 cd/m2，被試適應(yīng)光環(huán)境10 min。 待背景光穩(wěn)定后，測(cè)量背景亮度L。隨后打開(kāi)2°圓形視目標(biāo)，并設(shè)置參考光，待其穩(wěn)定后在同一位置測(cè)量此時(shí)視目標(biāo)亮度Lytr。被試將頭部固定在額托架上以確保觀察視角。然后以相反相位驅(qū)動(dòng)待測(cè)光使其和參考光交替閃爍，被試調(diào)節(jié)待測(cè)光強(qiáng)度直至頻閃消失或閃爍最小，在同一位置測(cè)量融合視目標(biāo)亮度Lyb+r+t 。每次調(diào)節(jié)前，待測(cè)光亮度都隨機(jī)地設(shè)為高于或低于參考光。450 nm、479 nm、509 nm、622 nm、656 nm五種待測(cè)光采樣波長(zhǎng)的測(cè)量順序是隨機(jī)的。每個(gè)被試進(jìn)行3組完整的實(shí)驗(yàn)。

實(shí)驗(yàn)結(jié)果：

?結(jié)果發(fā)現(xiàn)，20°周邊視場(chǎng)的V(入)曲線與2°中央視場(chǎng)的曲線存在不同，在形狀上更展寬，這反應(yīng)了視網(wǎng)膜上三類不同錐體細(xì)胞的相對(duì)分布對(duì)V(λ)的影響。本文研究為后續(xù)測(cè)量整個(gè)視場(chǎng)上光譜光視效率函數(shù)的分布奠定了理論和實(shí)驗(yàn)基礎(chǔ)。

?

實(shí)驗(yàn)中所用到的ATA-4011功率放大器參數(shù)指標(biāo)：

?

本文實(shí)驗(yàn)由西安安泰電子整理發(fā)布，西安安泰電子科技有限公司（Aigtek）是國(guó)內(nèi)專業(yè)從事測(cè)量?jī)x器研發(fā)、生產(chǎn)和銷售的高科技企業(yè)。公司致力于功率放大器、計(jì)量校準(zhǔn)產(chǎn)品、線束測(cè)試儀等產(chǎn)品為核心的相關(guān)行業(yè)測(cè)試解決方案的研究，為用戶提供具有競(jìng)爭(zhēng)力的測(cè)試方案，Aigtek 已經(jīng)成為在業(yè)界擁有廣泛產(chǎn)品線，且具有相當(dāng)規(guī)模的儀器設(shè)備供應(yīng)商，樣機(jī)都支持免費(fèi)試用。如想了解更多實(shí)驗(yàn)方案，請(qǐng)持續(xù)關(guān)注安泰電子官網(wǎng)www.aigtek.com。

本實(shí)驗(yàn)參考至知網(wǎng)論文《20°周邊視場(chǎng)光譜光視效率的實(shí)驗(yàn)研究》