東隆集團自主研發(fā)以光頻域反射（OFDR）技術(shù)為核心的高分辨光學鏈路診斷儀OCI——OCI1300/OCI1500，它們都具有超高空間分辨率，能精確測量回損、插損和光譜等參數(shù)，其事件點定位精度高達0.1mm，其廣泛應(yīng)用于光器件、光模塊、硅光芯片等內(nèi)部鏈路反射情況測量。

下面小編為大家展示一組硅發(fā)射芯片測量，測試的設(shè)備是國產(chǎn)自研的高分辨光學鏈路診斷儀OCI1500。

硅發(fā)射芯片主要組件有一維光柵耦合器，可變光衰減器，強度調(diào)制器和偏振調(diào)制器。將芯片和OCI1500連接，進行反射率分布測量。

在10μm空間分辨率下獲得測試結(jié)果，其中存在多個反射峰，且與芯片內(nèi)部器件一一對應(yīng)。為確定反射峰位置，在調(diào)制器上施加信號，對反射峰的變化情況進行觀察和分析，得到最終分析結(jié)果。

從上述測試結(jié)果看出，高分辨光學鏈路診斷儀OCI1500可實現(xiàn)對芯片內(nèi)各器件的識別、定位及回損測量。并且OCI1500設(shè)備在芯片前期研發(fā)以及后期產(chǎn)線產(chǎn)品批量合格檢測中，能起到關(guān)鍵性作用。

在如今半導體芯片競爭已經(jīng)進入白熱化的時候，國內(nèi)芯片面對眾多的圍追堵截，但已經(jīng)形成了一定實力的廠家并且在穩(wěn)步上升階段，中等實力的廠家也在一個相對快車道上發(fā)展。因此，東隆集團攜高分辨光學鏈路診斷儀OCI1500助力加速國產(chǎn)化芯片制造，和硅光芯片項目開發(fā)、測試與生產(chǎn)，為您保駕護航，砥礪前行。

產(chǎn)品特點

? 波長范圍：1525~1625nm或1265~1340nm

? 空間分辨率：10μm@50m、20μm@100m

? 測量長度：100m（可定制升級）

? 自校準，無需人為干預(yù)，穩(wěn)定性好

? 可擴展分布式溫度、應(yīng)變測量

? 可提供定制服務(wù)

主要應(yīng)用

? 光器件、光模塊測量

? 光纖長度精確測量

? 硅光芯片測量

? 光譜、群延時測量

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