掃描電鏡使用的過程中，是否會遇到如下問題：

　　1. 在不同設(shè)備間切換樣品時總需耗費大量時間重新定位感興趣區(qū)域

　　2. 總是為獲取大面積高分辨圖像而苦惱，需要頻繁切換成像參數(shù)，調(diào)整像散聚焦

　　3. 得到圖像后又在為圖像的量化分析而發(fā)愁

　　針對以上的困擾和需求，蔡司掃描電鏡進行了全方位武裝，特別推出智能電鏡解決方案，解決以上提到的所有問題，大程度確保您日常檢測和分析工作的順暢與高效。

　　關(guān)聯(lián)定位分析

　　蔡司Connect模塊輕松實現(xiàn)光學(xué)顯微鏡到掃描電鏡的橋接，快速實現(xiàn)樣品在不同設(shè)備間的重新定位，還能統(tǒng)一管理關(guān)聯(lián)設(shè)備的數(shù)據(jù)和信息。

　　關(guān)聯(lián)定位：通過關(guān)聯(lián)樣品臺實現(xiàn)樣品在不同顯微鏡設(shè)備之間自動關(guān)聯(lián)重定位，大幅縮減操作用時

　　數(shù)據(jù)疊加：自由疊加來自手機，光學(xué)顯微鏡，掃描電鏡的信息以及相關(guān)能譜信息

　　統(tǒng)一管理：管理來自不同關(guān)聯(lián)設(shè)備的數(shù)據(jù)，輸出不同信息疊加圖像和視頻

　　蔡司SmartSEM Touch定制軟件，全面兼顧參數(shù)設(shè)置，成像，自動化拼圖，圖像瀏覽，實現(xiàn)智能高效的掃描電鏡成像。

　　向?qū)讲僮髁鞒蹋缑婧啙?，操作簡?/p>

　　根據(jù)樣品智能匹配成像參數(shù)，實現(xiàn)自動聚焦

　　簡單操作即可完成高通量圖像拍攝和拼接

　　量化分析

　　蔡司ZEN模塊實現(xiàn)從電鏡圖像獲取，圖像處理，圖像分割，自動測量到報告生成的整個量化分析流程。

　　一鍵獲取掃描電鏡圖像，向?qū)降姆治龉ぷ髁鞒蹋翢o經(jīng)驗的新手也可輕松掌握

　　基于機器學(xué)習(xí)的ZEN Intellesis模塊輕松實現(xiàn)傳統(tǒng)閾值方法難以達成的圖像處理需求

　　豐富的測量功能，如顆粒統(tǒng)計分析，孔隙率，含量百分比，層厚測量，晶粒度評級等

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