近期蔡司代理三本精密儀器小編獲悉，借助于蔡司冷凍聚焦離子束掃描電鏡Cryo-Crossbeam(Cryo-FIB)，在低溫條件下，南京郵電大學(xué)辛顥團(tuán)隊(duì)成功的制備出Ref和異質(zhì)結(jié)熱處理(JHT)薄片樣品，并通過X射線能譜儀(EDS)和高分辨透射電鏡(HRTEM)分析了兩個(gè)樣品界面處的納米級微觀形貌、元素分布與電子衍射圖像差異，系統(tǒng)研究了ACZTSSe電池異質(zhì)結(jié)界面的構(gòu)建過程。

▲低溫?zé)崽幚砬昂驛CZTSSe/CdS異質(zhì)結(jié)界面性質(zhì)分析。a，b，EDS元素分布和 Ref (a) 和 JHT (b)高分辨暗場透射電鏡圖像。c、d，分別在a和 b中突出顯示的區(qū)域內(nèi)測量的 Ref (c) 和 JHT (d) 器件的異質(zhì)結(jié)上的 EDS元素線掃描。e-h，Ref(e，f)和JHT(f，h)器件的ACZTSSe/CdS 異質(zhì)結(jié)的局部HRTEM(e，g)和 FFT(f，h)圖像。

該工作不僅大幅提升了ACZTSSe太陽能電池的轉(zhuǎn)換效率，突破了ACZTSSe電池異質(zhì)結(jié)界面復(fù)合這一瓶頸，而且首次揭示了ACZTSSe太陽能電池異質(zhì)結(jié)界面的構(gòu)建過程及缺陷形成的內(nèi)在機(jī)制，以及揭示了銅鋅錫硫與銅銦鎵硒具有完全不同的異質(zhì)結(jié)界面的化學(xué)根源。研究結(jié)果為該類電池效率的進(jìn)一步提高提供了新的思路與策略。

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