X-射線衍射（X-ray diffraction，XRD）是研究藥物晶型的主要手段，經(jīng)X-射線照射，物體本身內(nèi)部原子發(fā)生散射，各個散射波互相之間存在一定的干涉而產(chǎn)生的一種組合衍射波。這些不同原子之間的衍射波又互相影響，導(dǎo)致這些射線強(qiáng)度在某些方向上的增強(qiáng)，而在其他方向上的減弱，通過采集衍射峰位、衍射峰線形、衍射峰強(qiáng)度等信息，分析其結(jié)果便可得到其對應(yīng)的晶型結(jié)構(gòu)。

可用于區(qū)別晶態(tài)和非晶態(tài)，鑒別晶體的品種，區(qū)別混合物和化合物，測定藥物晶型結(jié)構(gòu)，測定晶胞參數(shù)（如原子間的距離、環(huán)平面的距離、雙面夾角等），還可用于不同晶型的比較。X-射線衍射法又分為粉末衍射XPRD和單晶衍射SXRD兩種，定量方法分為內(nèi)標(biāo)法與外標(biāo)法兩種。

某企業(yè)委托對某種B藥中的晶型Ⅱ及晶型Ⅲ的進(jìn)行判別。經(jīng)前期溝通，檢測工程師最終采用外標(biāo)法定量分析，外標(biāo)法檢測標(biāo)樣不需與樣品混合，將晶型Ⅱ及晶型Ⅲ配置成混標(biāo)溶液，定量檢測其中這兩種晶型的含量，用SiO2標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)進(jìn)行特征峰參數(shù)檢測比對，確定參數(shù)標(biāo)準(zhǔn)。

通過對B藥中的晶型判別進(jìn)行的方法開發(fā)及驗(yàn)證，可有效確認(rèn)其中B藥晶型的類別及對應(yīng)晶型的含量，避免生產(chǎn)藥品后，無法確認(rèn)其晶型，或是生產(chǎn)晶型出錯而造成的損失，定量判斷其中具體晶型的含量，方便生產(chǎn)制造的同時也利于研究生產(chǎn)工藝，為生產(chǎn)制造廠家提供便利。

藥物晶型的定量也是藥物研發(fā)的一個不可或缺的環(huán)節(jié)之一，X射線衍射技術(shù)如今已成為研究人員獲得材料晶體結(jié)構(gòu)等信息的重要手段，一般對于晶型研究可聯(lián)合幾種方法共同定量，以彌補(bǔ)各自的不足。例如在晶型研究中的紅外光譜（IR）、差示掃描量熱法（DSC）、固態(tài)核磁共振法（NMR）、太赫茲光譜法等。

實(shí)驗(yàn)室擁有紅外、X-射線衍射、核磁等多類檢測儀器，可對晶型判別提供相應(yīng)的檢測方法及驗(yàn)證，檢測工程實(shí)際項(xiàng)目經(jīng)驗(yàn)豐富，可針對醫(yī)藥、化工等各領(lǐng)域樣品的進(jìn)行科研測試并提供相關(guān)檢測報告，歡迎致電咨詢。