外力撤除后在材料內(nèi)部殘留的應(yīng)力就是殘余應(yīng)力。但是，科學(xué)指南針平臺(tái)發(fā)現(xiàn)大家習(xí)慣上將殘余應(yīng)力分為微觀應(yīng)力和宏觀應(yīng)力。兩種應(yīng)力在XRD測(cè)試中的表現(xiàn)是不相同的。

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微觀應(yīng)力是指晶粒內(nèi)部殘留的應(yīng)力，它的存在，使衍射峰變寬,而超微觀應(yīng)力的存在則會(huì)使衍射峰強(qiáng)度降低。這種變寬通常與因?yàn)榫Я＜?xì)化引起的衍射峰變寬混雜在一起，兩者形成卷積。通過(guò)測(cè)量衍射峰的寬化，并采用近似函數(shù)法或傅立葉變換方法來(lái)求得微觀應(yīng)力的大小。

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宏觀應(yīng)力是指存在于多個(gè)晶體尺度范圍內(nèi)的應(yīng)力，相對(duì)于微觀應(yīng)力存在的范圍而視為宏觀上存在的應(yīng)力。一般情況下，殘余應(yīng)力的術(shù)語(yǔ)就是指在宏觀上存在的這種應(yīng)力。宏觀殘余應(yīng)力（以下稱(chēng)殘余應(yīng)力）在X射線衍射譜上的表現(xiàn)是使峰位漂移。當(dāng)存在壓應(yīng)力時(shí)，晶面間距變小，因此，衍射峰向高角度偏移，反之，當(dāng)存在拉應(yīng)力時(shí)，晶面間的距離被拉大，導(dǎo)致衍射峰位向低角度位移。通過(guò)測(cè)量樣品衍射峰的位移情況，可以求得殘余應(yīng)力。

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以上就是科學(xué)指南針平臺(tái)關(guān)于Ｘ射線衍射測(cè)量殘余內(nèi)應(yīng)力的基本原理，后續(xù)就為大家分享關(guān)于殘余應(yīng)力如何計(jì)算？如果大家有測(cè)試需要，可以聯(lián)系科學(xué)指南針，給予你最專(zhuān)業(yè)、最便捷、最快速的幫助。

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