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芯片CP及FT規(guī)范性能測試難題-ATECLOUD-IC智能云測試平臺完美解決

2023-08-23 16:31 作者:納米軟件  | 我要投稿

芯片測試是極其重要的一環(huán),有缺陷的芯片能發(fā)現(xiàn)的越早越好。在芯片領(lǐng)域有個(gè)十倍定律,從設(shè)計(jì)-->制造-->封裝測試-->系統(tǒng)級應(yīng)用,每晚發(fā)現(xiàn)一個(gè)環(huán)節(jié),芯片公司付出的成本將增加十倍!!!

所以測試是設(shè)計(jì)公司尤其注重的,如果把有功能缺陷的芯片賣給客戶,損失是極其慘重的,不僅是經(jīng)濟(jì)上的賠償,還有損信譽(yù)。因此芯片測試的成本也越來越高!

IC芯片自動化測試

一、常見的測試手段,CP(Chip Probing)測試和FT(Final Test)測試:

1、CP測試

芯片測試分兩個(gè)階段,一個(gè)是CP(Chip Probing)測試,也就是晶圓(Wafer)測試。另外一個(gè)是FT(Final Test)測試,也就是把芯片封裝好再進(jìn)行的測試。

CP(Chip Probing)指的是晶圓測試。CP測試在整個(gè)芯片制作流程中處于晶圓制造和封裝之間。晶圓(Wafer)制作完成之后,成千上萬的裸DIE(未封裝的芯片)規(guī)則的分布滿整個(gè)Wafer。由于尚未進(jìn)行劃片封裝,芯片的管腳全部裸露在外,這些極微小的管腳需要通過更細(xì)的探針臺來與測試機(jī)臺連接。

在未進(jìn)行劃片封裝的整片Wafer上,通過探針將裸露的芯片與測試機(jī)連接,從而進(jìn)行的芯片測試就是CP測試。

晶圓CP測試,常應(yīng)用于功能測試與性能測試中,了解芯片功能是否正常,以及篩掉芯片晶圓中的故障芯片。

2、FT測試

封裝后成品FT測試,常應(yīng)用與功能測試、性能測試和可靠性測試中,檢查芯片功能是否正常,以及封裝過程中是否有缺陷產(chǎn)生,并且?guī)椭诳煽啃詼y試中用來檢測經(jīng)過“火雪雷電”之后的芯片是不是還能工作。需要應(yīng)用的設(shè)備主要是自動測試設(shè)備(ATE)+機(jī)械臂(Handler)+儀器儀表,需要制作的硬件是測試板(Loadboard)+測試插座(Socket)等。

二、芯片測試注意事項(xiàng)

1、檢測前要了解集成電路及其相關(guān)電路的工作原理

檢查和修理集成電路前首先要熟悉所用集成電路的功能、內(nèi)部電路、主要電氣參數(shù)、各引腳的作用以及引腳的正常電壓、波形與外圍元件組成電路的工作原理。如果具備以上條件,那么分析和檢查會容易許多。

2、測試不要造成引腳間短路

電壓測量或用示波器探頭測試波形時(shí),表筆或探頭不要由于滑動而造成集成電路引腳間短路,最好在與引腳直接連通的外圍印刷電路上進(jìn)行測量。任何瞬間的短路都容易損壞集成電路,在測試扁平型封裝的CMOS集成電路時(shí)更要加倍小心。

3、嚴(yán)禁在無隔離變壓器的情況下,用已接地的測試設(shè)備去接觸底板帶電的電視、音響、錄像等設(shè)備

嚴(yán)禁用外殼已接地的儀器設(shè)備直接測試無電源隔離變壓器的電視、音響、錄像等設(shè)備。雖然一般的收錄機(jī)都具有電源變壓器,當(dāng)接觸到較特殊的尤其是輸出功率較大或?qū)Σ捎玫碾娫葱再|(zhì)不太了解的電視或音響設(shè)備時(shí),首先要弄清該機(jī)底盤是否帶電,否則極易與底板帶電的電視、音響等設(shè)備造成電源短路,波及集成電路,造成故障的進(jìn)一步擴(kuò)大。

4、要注意電烙鐵的絕緣性能

不允許帶電使用烙鐵焊接,要確認(rèn)烙鐵不帶電,最好把烙鐵的外殼接地,對MOS電路更應(yīng)小心,能采用6~8V的低壓電路鐵就更安全。

5、要保證焊接質(zhì)量

焊接時(shí)確實(shí)焊牢,焊錫的堆積、氣孔容易造成虛焊。焊接時(shí)間一般不超過3秒鐘,烙鐵的功率應(yīng)用內(nèi)熱式25W左右。已焊接好的集成電路要仔細(xì)查看,最好用歐姆表測量各引腳間有否短路,確認(rèn)無焊錫粘連現(xiàn)象再接通電源。

6、不要輕易斷定集成電路的損壞

不要輕易地判斷集成電路已損壞。因?yàn)榧呻娐方^大多數(shù)為直接耦合,一旦某一電路不正常,可能會導(dǎo)致多處電壓變化,而這些變化不一定是集成電路損壞引起的,另外在有些情況下測得各引腳電壓與正常值相符或接近時(shí),也不一定都能說明集成電路就是好的。因?yàn)橛行┸浌收喜粫鹬绷麟妷旱淖兓?/p>

7、測試儀表內(nèi)阻要大

測量集成電路引腳直流電壓時(shí),應(yīng)選用表頭內(nèi)阻大于20KΩ/V的萬用表,否則對某些引腳電壓會有較大的測量誤差。

8、要注意功率集成電路的散熱

功率集成電路應(yīng)散熱良好,不允許不帶散熱器而處于大功率的狀態(tài)下工作。

9、引線要合理

如需要加接外圍元件代替集成電路內(nèi)部已損壞部分,應(yīng)選用小型元器件,且接線要合理以免造成不必要的寄生耦合,尤其是要處理好音頻功放集成電路和前置放大電路之間的接地端。

ATECLOUD-IC芯片自動化測試系統(tǒng)

ATECLOUD-IC集成電路云測試平臺解決以上測試優(yōu)勢體現(xiàn):

支持MCU、Analog IC、ADC、HIC、IGBT及分立器件全方位測試

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支持多工位高速并行測試

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已兼容2000+儀器型號,包含是德、泰克、R&S普源、鼎陽、艾德克斯等廠家,支持設(shè)備持續(xù)擴(kuò)展

具備數(shù)據(jù)洞察及大數(shù)據(jù)分析功能,為科研生產(chǎn)提供數(shù)據(jù)支撐

適用于研發(fā)/中試/生產(chǎn)芯片全生命周期的應(yīng)用


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