????????白光干涉測(cè)粗糙度和AFM測(cè)粗糙度是兩種常見(jiàn)的表面粗糙度測(cè)試方法。它們?cè)谠砗蛻?yīng)用方面有一些明顯的區(qū)別。接下來(lái)鑠思百檢測(cè)小編整理了部分有關(guān)白光干涉儀和AFM的區(qū)別，希望可以幫助有需求的同學(xué)。

????????白光干涉測(cè)粗糙度是一種基于光學(xué)干涉原理的測(cè)量技術(shù)。它通過(guò)測(cè)量反射或透射光的相位差來(lái)評(píng)估表面的粗糙程度。這種方法使用一束白光照射樣品表面，并通過(guò)干涉現(xiàn)象來(lái)測(cè)量光波在表面上反射或透射時(shí)的相位差。然后，使用干涉儀或干涉顯微鏡來(lái)觀察干涉條紋的形成和分布。通過(guò)分析這些干涉條紋，可以得出關(guān)于表面粗糙度的信息。白光干涉測(cè)粗糙度具有非接觸、高精度和寬測(cè)量范圍的特點(diǎn)，適用于各種表面材料和形狀。

????????相比之下，原子力顯微鏡（AFM）是一種使用探針掃描樣品表面的顯微鏡技術(shù)。AFM通過(guò)測(cè)量探針與樣品表面之間的相互作用力來(lái)評(píng)估表面的粗糙度。探針可以是尖銳的針尖或微小的探測(cè)器，它們通過(guò)與表面接觸，測(cè)量和記錄表面的形貌和性質(zhì)。AFM可以提供非常高的分辨率，可以檢測(cè)納米級(jí)的表面特征，并且可以在不同的環(huán)境中進(jìn)行測(cè)量，包括液體和氣體。

????????白光干涉測(cè)粗糙度和AFM測(cè)粗糙度在測(cè)量原理和適用范圍上存在一些顯著的差異。白光干涉測(cè)粗糙度適用于宏觀和中等尺度的表面粗糙度測(cè)量，可以提供較大范圍的測(cè)量結(jié)果，從上面的結(jié)果圖中可以看出，白光干涉的范圍為毫米級(jí)別的。而AFM適用于納米級(jí)表面粗糙度測(cè)量，結(jié)果中測(cè)試范圍為微米級(jí)別可以提供非常高的分辨率。此外，AFM還可以提供關(guān)于表面力學(xué)性質(zhì)和化學(xué)成分的額外信息。

????????總之，白光干涉測(cè)粗糙度和AFM測(cè)粗糙度是兩種常用的表面粗糙度測(cè)試方法。它們?cè)谠砗瓦m用范圍上存在一些差異，因此在選擇合適的測(cè)試方法時(shí)需要考慮具體的應(yīng)用需求和測(cè)量尺度。

????????如果需要了解更多測(cè)試有關(guān)內(nèi)容，可以聯(lián)系鑠思百檢測(cè)！(www.sousepad.com)鑠思百檢測(cè)作為華中地區(qū)領(lǐng)先的第三方權(quán)威機(jī)構(gòu)，與武漢眾多高校及其分析測(cè)試中心有交流合作。包括SEM在內(nèi)，XPS測(cè)試，XRD測(cè)試，EPR等測(cè)試都有豐富的經(jīng)驗(yàn)，歡迎百度搜索：“鑠思百檢測(cè)“聯(lián)系我們送樣！?