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檢測BGA虛焊漏焊的方法之bga芯片x光檢測介紹

2020-12-16 11:26 作者:日聯(lián)科技X射線  | 我要投稿

BGA焊料檢查存在問題:產(chǎn)品測試期間信號不穩(wěn)定。按下BGA電路后,信號恢復(fù)正常。懷疑焊接錯(cuò)誤,不知道哪個(gè)BGA有問題?怎么做? “間歇性故障”表示有時(shí)正常工作,有時(shí)不工作。任何設(shè)備和電路都可能出現(xiàn)間歇性問題。當(dāng)我們檢查時(shí),設(shè)備繼續(xù)正常工作,可能會(huì)持續(xù)許多天,但有時(shí)故障現(xiàn)象是短暫的,持續(xù)了很短的時(shí)間,然后又恢復(fù)了正常。很難解決。


間歇性故障可能是在電子產(chǎn)品中發(fā)現(xiàn)無故障(NFF)的原因。 NFF表示在使用產(chǎn)品期間發(fā)生了故障或報(bào)告了故障。對產(chǎn)品進(jìn)行了分析或測試以確認(rèn)故障,但未發(fā)現(xiàn)“故障或故障”。 NFF現(xiàn)象的一個(gè)常見示例是計(jì)算機(jī)的“掛起”。顯然發(fā)生了“故障”。但是,如果您重新啟動(dòng)計(jì)算機(jī),它通常可以再次工作。 NFF和間歇性故障的百分比因行業(yè)和產(chǎn)品而異。

當(dāng)前,F(xiàn)PGA廣泛用于電子產(chǎn)品中,最常用的是BGA球柵陣列封裝。 BGA封裝的特點(diǎn)是焊球小,密度高。缺點(diǎn)是不容易檢測。在使用中,F(xiàn)PGA焊點(diǎn)容易受到熱應(yīng)力和機(jī)械應(yīng)力的影響,這很容易導(dǎo)致電路板上組件之間的間歇性連接或故障。這種故障非?!爸旅?,并且是導(dǎo)致重大任務(wù)故障和關(guān)鍵設(shè)備損壞的重要原因。


以“資質(zhì)”為目標(biāo),以“檢驗(yàn)后”為特征的傳統(tǒng)方法已不能滿足現(xiàn)代高可靠性產(chǎn)品的質(zhì)量評估要求。傳統(tǒng)的過程檢測方法無法再區(qū)分實(shí)際的過程級別。如果沒有定量的檢測和分析,很可能會(huì)“生病”,因?yàn)槭褂糜腥毕莸年P(guān)鍵電路會(huì)導(dǎo)致任務(wù)期間發(fā)生災(zāi)難性故障!為了防止這種情況的發(fā)生,無錫日聯(lián)科技有限公司開發(fā)了AX9100系列檢測設(shè)備,該設(shè)備可以量化焊縫的焊接故障,在線自檢,自檢,故障定位和故障警告。 BGA電路實(shí)現(xiàn)智能預(yù)警。診斷功能,有效檢測焊點(diǎn)氣泡等


傳統(tǒng)的檢查方法極其難以發(fā)現(xiàn)微裂紋表面的污染和氧化。隨著時(shí)間的流逝,這些潛在的問題將影響設(shè)備的使用壽命,甚至影響戰(zhàn)斗任務(wù)。傳統(tǒng)的光學(xué)檢查只能觀察小零件或邊緣;邊界掃描只能在測試模式下使用,不能分析降級;破壞性檢查和環(huán)境檢查的結(jié)果并不理想。

X射線檢查設(shè)備可以記錄特定時(shí)間和特定工作條件(溫度,振動(dòng))下每個(gè)BGA焊點(diǎn)的電阻變化,并且可以從微觀時(shí)間和物理角度觀察并記錄每個(gè)BGA焊點(diǎn)的故障。處理。


X射線檢查設(shè)備是用于軍事電子產(chǎn)品故障排除,故障分析和故障警告的非常有用的隱藏危險(xiǎn)檢測系統(tǒng)。這很實(shí)用!

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