蔡司FIB雙束掃描電鏡細(xì)胞器檢測方案-友碩
聚焦離子束掃描電鏡Focused lon Beam SEM
當(dāng)需要對細(xì)胞器等微小生物結(jié)構(gòu)
進(jìn)行三維高分辨成像與分析的時(shí)候
我們可以使用FIB-SEM
蔡司代理昆山友碩小編介紹該技術(shù)利用高能聚焦的離子束對樣品上的微小區(qū)域進(jìn)行精密刻蝕,逐層刻蝕樣品橫切面,不斷地暴露出新鮮切面,并使用電子束對新鮮切面實(shí)現(xiàn)連續(xù)成像,在x、y、z三個(gè)維度上同時(shí)具有納米級別的分辨率,是進(jìn)行亞細(xì)胞器級別精細(xì)結(jié)構(gòu)三維成像分析的最佳選擇。

蔡司Crossbeam系列FIB-SEM提供穩(wěn)定的三維成像,并輔助多項(xiàng)智能化功能設(shè)計(jì),讓整體工作流程簡單、智能、易用。

冷凍聚焦離子束掃描電鏡Cryo FIB-SEM
當(dāng)需要對化學(xué)試劑處理
敏感的生物結(jié)構(gòu)
進(jìn)行自然狀態(tài)成像的時(shí)候
我們可以使用cryo FIB-SEM

該方法在全程冷凍的條件下對樣品成像,可以有效的避免敏感的生物結(jié)構(gòu)在經(jīng)過常規(guī)化學(xué)處理的過程中遭到破壞,甚至形成人造偽影,最大程度獲得樣品的真實(shí)三維結(jié)構(gòu)信息。

蔡司雙束掃描電鏡Crossbeam系列FIB-SEM配備冷凍傳輸系統(tǒng),-機(jī)多用,均可做常溫和冷凍FIB-SEM兩用。

優(yōu)越的鏡筒設(shè)計(jì)讓未經(jīng)過任何染色的生物結(jié)構(gòu)也能被呈現(xiàn)得清清楚楚,是進(jìn)行冷凍三維超微結(jié)構(gòu)的優(yōu)質(zhì)選擇。以上是蔡司代理昆山友碩小編為您介紹的聚焦離子束掃描電鏡微生物檢測方案,更多請ZX昆山友碩