鍍層測厚應(yīng)用正比接收器比半導(dǎo)體探測器更實(shí)用辯論
隨著科技發(fā)展,很多行業(yè)的檢測需要,檢測儀器也越來越多,各自都有各自的優(yōu)勢。我們對鍍層測厚應(yīng)用正比接收器比半導(dǎo)體探測器更實(shí)用來一場簡單的辯論。接下來和一六儀器一起了解一下。
鍍層測厚應(yīng)用正比接收器:
1.在X熒光儀器鍍層應(yīng)用中,正比例接收器接收面積大,測試時間短、穩(wěn)定性好;
2. 正比例接收器相對半導(dǎo)體探測器儀器射線管使用功率低,使用壽命更長;
3. 正比例接收器相比同等價位半導(dǎo)體探測器,能測好更小樣品;
4. 正比例接收器鍍層儀器,相比半導(dǎo)體探測器能測更高臺階的異型件;
5. X熒光儀器鍍層測厚做的好的廠家主要配置都搭載正比例接收器;

半導(dǎo)體探測器:
1. 半導(dǎo)體探測器分辨率更高,更好區(qū)分開相鄰元素的干擾;
2. 首飾貴金屬鍍層行業(yè)半導(dǎo)體探測器檢測的準(zhǔn)確率更好;
3. 半導(dǎo)體探測器有效計數(shù)率更高,對于稍大的產(chǎn)品測試穩(wěn)定性及準(zhǔn)確性更高;
4. 半導(dǎo)體探測器檢出限更低,檢測超薄鍍層膜厚效果更好;
5. 半導(dǎo)體探測器儀器不僅能測鍍層,還能檢測合金成分、RoHS環(huán)保檢測,可以一機(jī)多用且精檢精測;
總結(jié):鍍層測厚應(yīng)用正比接收器與半導(dǎo)體探測器各有各的優(yōu)勢,不能說哪個好,也不能說哪個不好。重要的是每個儀器都有自己最適合的檢測范圍,儀器可以滿足消費(fèi)者需求的我姐的都是不錯的儀器。
以上就是一六整理分享的關(guān)于鍍層測厚應(yīng)用正比接收器比半導(dǎo)體探測器更實(shí)用辯論。希望可以幫助大家根據(jù)產(chǎn)品優(yōu)勢勾選到心儀的儀器。想了解更多相關(guān)資訊,歡迎持續(xù)關(guān)注。