SEM掃描電鏡(掃描電子顯微鏡)提供樣品表面和近表面的高分辨率和高景深圖像。蔡司代理三本精密儀器小編獲悉蔡司掃描電子顯微鏡SEM是使用*廣泛的分析工具之一，因為它可以快速提供極其詳細(xì)的圖像。與輔助能量色散X射線光譜(EDS)探測器相結(jié)合，掃描電子顯微鏡SEM還可以對幾乎整個元素周期表進(jìn)行元素鑒定。

在光學(xué)顯微鏡無法提供足夠的圖像分辨率或足夠高的放大倍率的情況下使用掃描電子顯微鏡SEM分析。掃描電子顯微鏡SEM還擅長生成詳細(xì)的表面形貌圖像。應(yīng)用包括故障分析、尺寸分析、工藝表征、逆向工程和顆粒識別。

蔡司代理三本精密儀器的專業(yè)知識和經(jīng)驗范圍對于我們所服務(wù)的行業(yè)和客戶來說是無價的。人對人服務(wù)確保結(jié)果及其影響的良好溝通?？蛻艚?jīng)常在分析過程中在場，從而可以立即共享數(shù)據(jù)、成像和信息。

SEM掃描電鏡(掃描電子顯微鏡)是使用最廣泛的分析工具之一，因為它可以快速提供極其詳細(xì)的圖像。結(jié)合微切刀的能力，它可以提供亞納米分辨率的橫截面圖像，并縮短周轉(zhuǎn)時間。

SEM掃描電鏡理想用途
高分辨率地表形貌圖像
元素微量分析和顆粒表征
在深入研究高級掃描電子顯微鏡TEM/STEM 成像之前進(jìn)行體積剖面檢查
SEM掃描電子顯微鏡優(yōu)勢強(qiáng)項
快速、高分辨率成像
快速識別存在的元素
出色的景深(~光學(xué)顯微鏡的100倍)
支持許多其他分析技術(shù)的多功能平臺
低真空模式可實現(xiàn)絕緣和水合樣品的成像
掃描電子顯微鏡缺點(diǎn)限制
可能需要蝕刻平面樣品以進(jìn)行對比
尺寸限制可能需要切割樣品
最終分辨率是樣品化學(xué)性質(zhì)和電子束穩(wěn)定性的強(qiáng)大函數(shù)
如果需要進(jìn)行特高壓表面分析，應(yīng)首先進(jìn)行，以避免掃描電子顯微鏡SEM可能引入表面碳，更多產(chǎn)品信息 請聯(lián)系蔡司代理三本精密儀器