相控陣無損檢測的現(xiàn)狀及發(fā)展。相控陣無損檢測是近幾年才出現(xiàn)的一種新興的無損探傷技術，其原理是利用電子束聚焦于工件表面，形成高密度能量區(qū)，使工件表面的微觀缺陷在瞬間被激發(fā)到高能級狀態(tài)而瞬時發(fā)射x射線或γ射線進行探測。由于該方法具有無損傷、速度快和定位精度高等特點而被廣泛應用于航空航天、汽車制造等工業(yè)生產(chǎn)領域。

一、相控陣無損檢測的發(fā)展歷史 相控陣（phased array）又稱相位陣列或波束成象技術（photonic imaging）。它是一種利用電磁波的干涉特性對物體進行成像的技術。1970年由美國人發(fā)明并申請了專利，1971年第一臺用于工業(yè)生產(chǎn)的相位陣列設備問世。1973年研制出世界上第一臺數(shù)字式相位陣列設備；1981年美國通用電氣的j.d.hall研制出世界上第一臺數(shù)字式雙路高速相位陣列掃描儀；1983年在美國貝爾實驗室制成世界第一臺全數(shù)字化多通道大型相控陣系統(tǒng)；1985年英國simco研制的mk-v型多功能相控陣系統(tǒng)開始進入市場銷售。我國從上世紀90年代初開始研究開發(fā)這項新技術，1990年開始應用，1995年開始產(chǎn)業(yè)化，2000年后逐步推廣開來，目前已成為一項重要的無損檢測新技術。

二、國內外相關技術的發(fā)展狀況

1.國外主要生產(chǎn) 美國：
美國ge是世界上第一個將phase array應用于工業(yè)生產(chǎn)的，該先后開發(fā)出多種型號的產(chǎn)品如laser phase array system （lap）、foc sed phase array system （ffa） 、twin camera laser test system （tfct） 等系列產(chǎn)品；日本nec是國際上最早phasearray技術研究開發(fā)的單位之一，20世紀80年代末已成功推出多款產(chǎn)品如nec valve detector for microstrip elements ， nec valve for microstrip glasses等；德國西門子是最早開展phasearray研究的單位之一，20世紀60年代即開始了該項技術的研發(fā)工作，90年代后推出了多項新產(chǎn)品如siemens spotter probe and extractors ， siemens foc sed phase array devices等產(chǎn)品。