編輯 | 環(huán)儀儀器

一、產(chǎn)品簡介：

半導體元件恒溫恒濕實驗箱是一種用于模擬半導體元件在恒定溫度和濕度條件下進行測試和評估的設(shè)備。它們提供精確的溫度和濕度控制，以滿足半導體元件在不同環(huán)境條件下的性能和可靠性要求。

二、產(chǎn)品用途：

根據(jù)相關(guān)標準，需要對半導體元器件進行濕熱存儲、高溫高濕試驗，這些試驗需要用到半導體元件恒溫恒濕實驗箱。

三、滿足標準：

GB/T 4937.42-2023 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第42部分：溫濕度貯存

IEC 60749-42:2014

JEDEC JESD22-A100E：2020 循環(huán)溫度-濕度-偏差與表面凝結(jié)壽命測試

JEDEC JESD22-A101D.01：2021 穩(wěn)態(tài)溫度-濕度偏差壽命測試

EIAJ ED-4701 100：2001 半導體器件的環(huán)境和耐久性試驗方法

四、技術(shù)參數(shù)：

溫度范圍：低溫0℃~70℃，低可達-150℃；高溫150℃，高可達200℃。

濕度范圍：20~98%R.H，可根據(jù)要求訂做至10~98%R.H

溫度波動度：±0.5℃溫度均勻度:±2℃

升溫速率:＞3℃/min

降溫速率:＞1℃/min 最快可達5℃/min

濕度波動度:±3%R.H

濕度均勻度:±2.5%R.H

半導體元件恒溫恒濕實驗箱整體配有超溫、制冷系統(tǒng)過載、過熱、過流、超壓、漏電、缺水、運行指示及報警裝置，加熱加濕空焚，故障報警后自動停機等保護。

用戶請根據(jù)半導體元件恒溫恒濕實驗箱使用要求，為您提供的以上規(guī)格表進行選型，如標準規(guī)格無法滿足您的需求，可以訪問“環(huán)儀儀器”官網(wǎng)，可為您量身定制最合適的解決方案。