IC芯片，大家或多或少有所了解吧？我們手上的手機(jī)、使用的電腦等器件里都有芯片，也稱為集成電路。小小的一塊芯片，其實(shí)包含了很多東西，比如電容、電阻等，所有的元件在一塊基片上組成了一個(gè)整體，如此精密的電路，如果產(chǎn)生不良該如何檢測(cè)呢？

傳統(tǒng)的芯片檢測(cè)方法是把芯片層層撥開(kāi)，使用顯微鏡對(duì)芯片的每一層表面進(jìn)行觀察，這種方式不僅不能全面地觀察芯片缺陷，還會(huì)對(duì)芯片造成一定的損壞。

而現(xiàn)在流行的X-RAY無(wú)損檢測(cè)，不僅不會(huì)破壞芯片，還可以實(shí)現(xiàn)100%檢測(cè)，完全解決了傳統(tǒng)的芯片檢測(cè)方式的弊端。X-RAY檢測(cè)是利用X射線的穿透性，穿透被檢物后在成像系統(tǒng)上顯示出高清圖像，人們可以清楚地看到芯片缺陷的位置以及大小。

X-RAY無(wú)損檢測(cè)除了能夠應(yīng)用在芯片檢測(cè)上，還可以應(yīng)用于LED燈珠、鋰電池以及半導(dǎo)體等缺陷的檢測(cè)。

那么以上內(nèi)容就是X-RAY檢測(cè)為什么能夠取代傳統(tǒng)芯片檢測(cè)方式的相關(guān)解答，希望對(duì)大家有所幫助，有需要X-RAY檢測(cè)設(shè)備的朋友可以聯(lián)系我們哦~

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