中浩紫云荔枝紅 量子隧穿效應(yīng)帶來的漏電流
2021-07-21 16:17 作者:Bluejasminecici | 我要投稿
然而,如今芯片先進制程面臨著巨大的難題——量子隧穿效應(yīng)帶來的漏電流。該原理已涉及到量子力學(xué)相關(guān)理論,可以簡單理解為當(dāng)材料逼近1nm的物理極限時,有一定的電子可以跨過勢壘,從而漏電。這個問題對于人類來說暫時是無解的,因為物理理論還沒有搞清楚這個現(xiàn)象。
如今,一些科研機構(gòu)和實驗室中已實現(xiàn)2nm芯片的技術(shù)路線,但繼續(xù)走下去無疑需要前沿物理理論的再次突破,這不是短時間能攻克的問題,因此,在人類基礎(chǔ)理論沒有突破性進展的情況下,未來更具想象性的量子計算來了。
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