光譜測厚儀是厚度檢測的重要設(shè)備，采用下照式設(shè)計可以快速方便地定位對焦樣品。使用方便，操作簡單。目前市場上的光譜測厚儀有很多種，為大家講解一下光譜測厚儀。

　　光譜測厚儀儀器優(yōu)勢：

　　1)搭載微聚焦加強型X射線發(fā)生器和先進的光路轉(zhuǎn)換聚焦系統(tǒng)；

　　2)擁有無損變焦檢測技術(shù)，手動變焦功能，可對各種異形凹槽件進行無損檢測，凹槽深度范圍0-30mm；

　　3)核心EFP算法，可對多層多元素，包括同種元素在不同層都可快、準、穩(wěn)的做出數(shù)據(jù)分析(釹鐵硼磁鐵上Ni/Cu/Ni/FeNdB，精準檢測第一層Ni和第三層Ni的厚度)；

　　4)配備高精密微型移動滑軌，可實現(xiàn)多點位、多樣品的精準位移和同時檢測；

　　5)可同時分析23個鍍層，24種元素，測量元素范圍：氯Cl(17)- 鈾U(92)，涂鍍層分析范圍：鋰Li(3)- 鈾U(92)，涂鍍層最低檢出限：0.005μm；

　　6)人性化封閉軟件，自動判斷故障提示校正及操作步驟，避免誤操作；

　　7)配有微光聚集技術(shù)，最近測距光斑擴散度10%；

　　相信很多人都知道，產(chǎn)品的厚度均勻性是最重要的指標之一，想要有效地控制材料厚度，厚度測試設(shè)備是必不可少的，但是具體要選擇哪一類測厚設(shè)備還需根據(jù)材料的種類、廠商對厚度均勻性的要求、以及設(shè)備的測試范圍等因素而定。光譜測厚儀價格也是根據(jù)儀器的配置去定價的。儀器配置具體的定價可以咨詢一六儀器。

　　以上就是一六儀器整理分享的關(guān)于光譜測厚儀優(yōu)勢及價格。想了解更多相關(guān)資訊，歡迎持續(xù)關(guān)注。