驍龍 8 Gen 3官宣:10月24日發(fā)布!采用“1 + 5 + 2”架構(gòu)...

6 月 2 日消息,高通已經(jīng)宣布了 2023 年 Snapdragon 峰會(huì),將于 10 月 24 日至 26 日舉行,預(yù)計(jì)將發(fā)布全新的驍龍 8 Gen 3 芯片。

發(fā)布驍龍 8 Gen 2 的峰會(huì)于 2022 年 11 月 15 日至 17 日在夏威夷舉行。今年,地點(diǎn)沒有改變,但日期有變,并且更早了。

驍龍 8 Gen 3方面,根據(jù)此前爆料匯總?cè)缦拢?/p>
◇ 制成工藝:臺(tái)積電N4P
◇ CPU:采用1(3.36GHz*Cortex-X4 超大核)+5+2”核心配置,驍龍 8 Gen 3 預(yù)計(jì)將帶來更強(qiáng)大的性能內(nèi)核和更高頻率。(驍龍 8 Gen 2:1+4+3)
◇ 安兔兔跑分:160W±(驍龍 8 Gen 2:133W±)
◇ GFX ES3.1:280FPS±(驍龍 8 Gen 2:220FPS±)
◇ 三級(jí)緩存:10MB(驍龍 8 Gen 2:8MB)
◇ 其他配置:支持 Android 14 和 Linux Kernel 6.1。



據(jù)數(shù)碼博主,數(shù)碼閑聊站 爆料,驍龍8Gen3首批量產(chǎn)機(jī),將于11月推出,首發(fā)機(jī)型包含,小米 14 系列、vivo X100 系列、iQOO12系列、Redmi K70 系列、一加 12、真我 GT5 期待一下。

5 月 29 日消息,Arm 公司今天發(fā)布了 2023 年的移動(dòng)處理器核心設(shè)計(jì):Cortex-X4、A720 和 A520。
——以上核心基于 Arm v9.2 架構(gòu),僅支持 64 位指令集,不再兼容 32 位應(yīng)用。
【Cortex-X4超大核】
◇ 定位旗艦,相較前代的 X3 核心性能平均提高了 15%,同頻功耗降低了 40% !
◇ 物理尺寸?進(jìn)一步增加,但不足10%。?
◇ L2 緩存大小來到2MB,進(jìn)一步提高實(shí)際性能收益。
◇ IPC 改進(jìn)平均為 +13%。
◇ 算術(shù)邏輯單元 (ALU) 從 6 個(gè)增加到 8 個(gè),添加了一個(gè)額外的分支單元(總共 3 個(gè)),添加了一個(gè)額外的乘法累加器單元,以及流水線浮點(diǎn)和平方根運(yùn)算。
【Cortex-A720性能核】
◇ 相較前代?A715 相同的功率下,核心的效率提高 20%。
◇ 同屏性能提高15%,極限性能提升4.5%。
◇ 縮短流水線長(zhǎng)度,優(yōu)化分支預(yù)測(cè),以及流水化了浮點(diǎn)除法和平方根運(yùn)算。
【Cortex-A520能效核】
◇ 相較前代?A510 核心在相同性能下,運(yùn)行效率提升?22%。
◇ 極限性能提高8%
◇ A520 核心采用合并核架構(gòu),可以在一個(gè)復(fù)合體中共享 L2 緩存、L2 轉(zhuǎn)換后備緩沖區(qū)和向量數(shù)據(jù)通路。A520 核心在前端也優(yōu)化了分支預(yù)測(cè),并移除或縮減了一些性能特性。
Arm 公司表示,這些新的 CPU 核心設(shè)計(jì)是為了應(yīng)對(duì)移動(dòng)設(shè)備市場(chǎng)的需求變化,不僅要追求更高的性能,還要考慮更好的效率、安全性和可擴(kuò)展性。隨著 Android 系統(tǒng)對(duì) 64 位應(yīng)用的要求越來越嚴(yán)格,Arm 公司認(rèn)為 64 位過渡已經(jīng)“完成任務(wù)”,不再需要支持 32 位應(yīng)用。
這些新的 CPU 核心設(shè)計(jì)預(yù)計(jì)將在今年底或明年初出現(xiàn)在新款芯片中,聯(lián)發(fā)科已經(jīng)表示將在其下一代產(chǎn)品中使用該技術(shù)。
聯(lián)發(fā)科也正式官宣,將采用arm全新架構(gòu),預(yù)計(jì)到 2023 底,上市旗艦機(jī)中 Arm 的 IP 架構(gòu)將只支持 64 位應(yīng)用運(yùn)行,為用戶帶來多達(dá) 20% 的潛在性能提升!
——微博博主 數(shù)碼閑聊站 透露,“天璣 9300 芯片預(yù)計(jì)將在驍龍 8 Gen 3 之前發(fā)布,vivo X100 系列首發(fā)是板上釘釘,OPPO 廠商還有新品搭載
據(jù) gizmochina 報(bào)道,一加已經(jīng)在使用驍龍 8 Gen 3 芯片的設(shè)備上進(jìn)行測(cè)試。