如何破解芯片封裝熱仿真技術(shù)“卡脖子”難題?
手機、電腦、智能家電等智能化設備都離不開芯片,隨著人們對智能化設備的功能要求越來越多樣化,芯片不斷朝著小尺寸、多功能、高密度、高功耗的方向發(fā)展,隨之而來的是越來越嚴重的發(fā)熱問題。芯片過熱會導致其性能下降,壽命縮短,造成不可逆損壞,這已經(jīng)成為制約半導體發(fā)展的主要因素。
芯片在出廠前首先要對其進行封裝,封裝是為了實現(xiàn)半導體芯片與外界交換信號并保護其免受各種外部因素影響。為了確保芯片能夠穩(wěn)定工作并延長使用壽命,工程師需要在芯片封裝前進行熱仿真分析。芯片熱仿真分析能夠在樣品和產(chǎn)品開始生產(chǎn)之前發(fā)現(xiàn)熱問題,指導設計優(yōu)化,以保證芯片工作時的溫度不超過其最大結(jié)點溫度,從而減少打樣試錯次數(shù),節(jié)約時間和成本,縮短研發(fā)周期,提高產(chǎn)品質(zhì)量。

現(xiàn)階段,各類電子設備普遍采用強制空氣對流的方式來冷卻發(fā)熱器件,即通過在芯片上加裝散熱器將芯片散發(fā)的熱量傳遞到散熱片上,并加裝風機等設備增強空氣循環(huán),將散熱器上的熱量帶走。
對于典型芯片封裝而言,主要的封裝熱阻包括 Die 結(jié)到環(huán)境(Junction-to-Ambient)的熱阻 Rja,結(jié)到殼(Junction-to-Case)的熱阻 Rjc和結(jié)到板(Junction-to-Board)的熱阻 Rjb。其中Rja與器件所處的環(huán)境有關,且器件規(guī)格書中的規(guī)定值一般為生產(chǎn)商基于標準環(huán)境測試,而往往實際應用環(huán)境和標準測試環(huán)境差別較大,Rja很難應用于芯片結(jié)溫預計,更多的應用于定性對比不同封裝芯片的散熱能力。因此,在實際應用時,更多的采用結(jié)殼熱阻Rjc和結(jié)板熱阻Rjb評價器件的散熱能力,由此便產(chǎn)生了雙熱阻模型。
在建立雙熱阻模型時一般做如下假設:
①結(jié)點熱量僅存在兩條散熱途徑:通過上表面?zhèn)鬟f到空氣中或散熱器上,通過下表面?zhèn)鬟f到PCB板上;
②上下表面為等溫面,不發(fā)生熱量傳遞;
③結(jié)點熱量不通過側(cè)面?zhèn)鬟f。

下面就來介紹一下如何使用云道智造“電子散熱模塊”進行“基于雙熱阻模型的芯片封裝中簡單強制對流換熱”仿真分析。
“芯片雙熱阻封裝的簡單強制對流換熱問題”仿真分析
1、模擬條件
本算例中建立了包括 1 個機箱、1 個 PCB 板、1 個雙熱阻封裝、1 個軸流風扇、1 個散熱器的簡單強迫對流換熱模型,目的在于雙熱阻封裝模塊的應用,便于熟悉雙熱阻封裝模塊的設置。穩(wěn)態(tài)計算,不考慮輻射。軸流風扇固定流量為 2CFM,垂直出風。
考慮流熱耦合問題;
雙熱阻封裝模塊中,中心節(jié)點功耗為 3W;
環(huán)境溫度為 30°C。
2、幾何模型
利用軟件自帶的智能模塊,快速建立所需幾何模型。


3、仿真分析
3.1 網(wǎng)格剖分
本次采用默認Region-based網(wǎng)格劃分方式;
調(diào)整全局網(wǎng)格和局部網(wǎng)格設置;

該案例中主要對重要器件進行局部網(wǎng)格設置,平面方向主要控制最大尺寸,厚度方向則是設置最小網(wǎng)格數(shù),如芯片、板卡等。

選擇【網(wǎng)格剖分】菜單下的【笛卡爾網(wǎng)格】,點擊進行網(wǎng)格剖分;
網(wǎng)格剖分完成后,選擇【載入網(wǎng)格】,可在【檢查網(wǎng)格】窗口中查看網(wǎng)格質(zhì)量。

本次模型利用非結(jié)構(gòu)化六面體網(wǎng)格剖分,長寬比33.3,非正交網(wǎng)格大于70的面?zhèn)€數(shù)為零,畸形度大于4的面?zhèn)€數(shù)為零,網(wǎng)格質(zhì)量良好,滿足流熱耦合計算要求,如下圖所示。

3.2 模型與求解設置


3.3 計算結(jié)果
本分析類型為穩(wěn)態(tài)、流熱耦合計算。后處理結(jié)果可以通過云圖、流線圖、切片以及表格統(tǒng)計的形式進行直觀展示,同時使用方可以根據(jù)這些結(jié)果對產(chǎn)品的熱設計進行相關評估,后處理結(jié)果如下圖所示:






本案例采用導熱+對流的形式進行散熱,芯片的熱量分別通過散熱片和電路板進行導熱,而后風扇把散熱齒片和電路板上的熱量通過對流方式帶走。通過以上溫度云圖、流線圖以及統(tǒng)計表格可以得知,在30℃環(huán)境溫度下,主芯片殼溫溫升11.37℃,最終溫度達到41.37℃;結(jié)溫溫升為21.6℃,最終溫度達到51.6℃。結(jié)溫溫度明顯低于規(guī)格書要求的最高結(jié)溫不超過85℃的要求,說明本案例的散熱設計方案滿足散熱要求,能夠保障芯片穩(wěn)定可靠的工作。
申請試用電子散熱模塊:
https://www.simapps.com/v2/tool/simetherm