老化試驗(yàn)是包裝后的加速壽命試驗(yàn)，主要包括高溫高壓下的電壓試驗(yàn)、電流試驗(yàn)、時(shí)序特征試驗(yàn)和功能試驗(yàn)。那么在使用它時(shí)應(yīng)該注意什么呢？

老化試驗(yàn)需要在老化室進(jìn)行，溫度一般控制在125℃-150℃之間。

為避免芯片試驗(yàn)時(shí)反復(fù)焊接，應(yīng)根據(jù)芯片包裝類型設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)插座，并將實(shí)驗(yàn)座安裝在實(shí)驗(yàn)電路板上進(jìn)行生產(chǎn)試驗(yàn)。

每個(gè)測試電路板可以排列幾十個(gè)甚至幾百個(gè)測試座。測試座下頂針的陣容與芯片的包裝類型一致，自動(dòng)機(jī)械手將芯片放入測試座中進(jìn)行測試。

老化座具有壽命長、檢驗(yàn)穩(wěn)定、交貨時(shí)間快等特點(diǎn)，已應(yīng)用于許多行業(yè)，使用時(shí)要注意上述事項(xiàng)。

深圳市欣同達(dá)科技有限公司成立于2016年,是集研發(fā).生產(chǎn).銷售為一體的高新技術(shù)企業(yè)。專注研發(fā)生產(chǎn):芯片測試座,老化座,ATE測試座,燒錄座,客制化Socket,開爾文測試座,ic測試架。適用于：BGA.QNF.DFN.QFP.SOP.LGA.等封裝測試插座。

?