一、設(shè)備用途：

? ? HAST加速老化試驗(yàn)箱廣泛應(yīng)用于多層電路板、IC封裝、液晶屏、LED、半導(dǎo)體、磁性材料、NdFeB、稀土、磁鐵等材料的密封性能測(cè)試，對(duì)上述產(chǎn)品的耐壓力和氣密性進(jìn)行測(cè)試。

HAST加速老化試驗(yàn)箱使用方法：

HAST加速老化試驗(yàn)箱是一種常見的測(cè)試設(shè)備，用于模擬高溫高濕環(huán)境下的產(chǎn)品老化情況。以下是HAST加速老化試驗(yàn)箱的使用方法：1.準(zhǔn)備工作：將試驗(yàn)箱放置在干燥、通風(fēng)、無陽(yáng)光直射的地方，檢查試驗(yàn)箱是否有損壞或污染，保證試驗(yàn)箱干凈整潔。

2.設(shè)置參數(shù)：根據(jù)需要設(shè)置試驗(yàn)箱的加熱溫度、濕度、壓力、時(shí)間等參數(shù)，確保測(cè)試結(jié)果可靠。

3.樣品準(zhǔn)備：將要測(cè)試的樣品放置在試驗(yàn)箱中，注意樣品之間的距離和放置位置，確保每個(gè)樣品都能得到均等的測(cè)試條件。

4.啟動(dòng)試驗(yàn)：按照設(shè)定的參數(shù)啟動(dòng)試驗(yàn)箱，讓試驗(yàn)箱自動(dòng)運(yùn)行，直到測(cè)試結(jié)束。

5.測(cè)試結(jié)果分析：試驗(yàn)結(jié)束后，將樣品取出并檢查其老化情況，根據(jù)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行分析和評(píng)估。

6.清潔維護(hù)：測(cè)試結(jié)束后，及時(shí)清理試驗(yàn)箱，保持其干凈整潔，定期維護(hù)設(shè)備，確保其正常運(yùn)行。

以上就是HAST加速老化試驗(yàn)箱的使用方法，希望對(duì)您有所幫助。

二、設(shè)備特點(diǎn)：

1)采用進(jìn)口耐高溫電磁閥雙路結(jié)構(gòu)，在最大程度上降低了使用故障率。

2)獨(dú)立蒸汽發(fā)生室，避免蒸汽直接沖擊產(chǎn)品，以免造成產(chǎn)品局部破壞。

3)門鎖省力結(jié)構(gòu)，解決第一代產(chǎn)品圓盤式手柄的鎖緊困難的缺點(diǎn)。

4)試驗(yàn)前排冷空氣；試驗(yàn)中排冷空氣設(shè)計(jì)(試驗(yàn)桶內(nèi)空氣排出)提高壓力穩(wěn)定性、再現(xiàn)性.

5)超長(zhǎng)效實(shí)驗(yàn)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)間，長(zhǎng)時(shí)間實(shí)驗(yàn)機(jī)臺(tái)運(yùn)轉(zhuǎn)400小時(shí).

6)水位保護(hù)，透過試驗(yàn)室內(nèi)水位Sensor檢知保護(hù).

7)tank耐壓設(shè)計(jì)，箱體耐壓力(150℃)2.65kg，符合水壓測(cè)試6kg.

8)二段式壓力安全保護(hù)裝置，采兩段式結(jié)合控制器與機(jī)械式壓力保護(hù)裝置.

9)安全保護(hù)排壓鈕，警急安全裝置二段式自動(dòng)排壓鈕 .

10)偏壓測(cè)試端子耐壓可達(dá)3000V(選配）

11)USB導(dǎo)出歷史記錄數(shù)據(jù)，曲線.

三、主要技術(shù)參數(shù)：

設(shè)備型號(hào) HE-HAST-40

圓形內(nèi)箱尺寸 直徑Φ400×深500（mm）

溫度范圍 +100℃～+132℃( 蒸氣溫度 )

溫度波動(dòng)度 ±0.5℃

溫度顯示精度 0.1℃

濕度范圍 70~100% 蒸氣濕度

濕度控制穩(wěn)定度 ±3%RH

使用壓力 1.2~2.89kg(含1atm)

壓力波動(dòng)均勻度 ±0.1Kg

時(shí)間范圍 0 Hr～999Hr

加壓時(shí)間 0.00 Kg～1.04 Kg/cm2? 約 45 分

控制器 PLC可程式彩色觸摸屏控制

內(nèi)桶材質(zhì) SUS316#不銹鋼板

外箱材質(zhì) SECC冷鋼板高溫烤漆處理

使用電源 單相 220V? 20A? 50/60Hz

安全保護(hù) 超壓保護(hù)，超溫保護(hù)，缺水保護(hù)等

水質(zhì)要求 純水或蒸餾水（用戶自備）