蔡司X-ray射線檢測(cè)設(shè)備詳解
蔡司X-ray射線檢測(cè)設(shè)備主要分為:計(jì)算機(jī)斷層掃描和X射線顯微鏡。X射線計(jì)算機(jī)斷層掃描技術(shù)已廣泛應(yīng)用于工業(yè)領(lǐng)域,為日用消費(fèi)品、汽車及醫(yī)療器械領(lǐng)域等應(yīng)用場(chǎng)合提供更多的解決方案。其可有效縮短產(chǎn)品研發(fā)周期,快速提供首件尺寸檢驗(yàn)報(bào)告及縮短無(wú)損缺陷分析時(shí)間。

通過(guò)近10年的發(fā)展,蔡司X射線顯微鏡已有500余臺(tái)產(chǎn)品被全世界知名的大學(xué)、研究機(jī)構(gòu)和企業(yè)廣泛安裝使用。在中國(guó),用戶購(gòu)置設(shè)備臺(tái)數(shù)也從不足20臺(tái)達(dá)到80余臺(tái)。國(guó)內(nèi)知名院校和研究機(jī)構(gòu)包括中科院很多研究院所、上海交通大學(xué)、西湖大學(xué)、西安交通大學(xué)、清華大學(xué)等單位都先后購(gòu)置和使用了該產(chǎn)品。X射線顯微鏡正成為科研測(cè)試中心平臺(tái)和工業(yè)先進(jìn)檢測(cè)分析不可或缺的檢測(cè)方式。由于蔡司X射線顯微鏡的普及和應(yīng)用,使用該設(shè)備產(chǎn)生的研究成果也層出不窮。在工業(yè)檢測(cè)領(lǐng)域持續(xù)為電子半導(dǎo)體無(wú)損失效分析和質(zhì)量控制做出貢獻(xiàn)。
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