近年來(lái)隨著光通信的高速發(fā)展，市場(chǎng)上圍繞著光通信的光器件種類眾多、加上產(chǎn)品迭代快，所以對(duì)測(cè)量?jī)x的要求更高。而在新興平面光波導(dǎo)和硅光芯片領(lǐng)域，其對(duì)儀表測(cè)量的精確性、穩(wěn)定性和操作便利性等各方面提出了前所未有的挑戰(zhàn)，由此東隆科技經(jīng)過(guò)多年的技術(shù)研發(fā)并攻克以上眾多難題，于去年成功發(fā)布了國(guó)產(chǎn)多功能光矢量分析儀（OCI-V）。

光矢量分析儀（OCI-V）是一款快速檢測(cè)光學(xué)器件損耗、色散和偏振等相關(guān)參數(shù)的光矢量分析儀。其原理是采用線性掃頻光源對(duì)待測(cè)器件進(jìn)行掃描，并結(jié)合相干檢測(cè)技術(shù)獲取待測(cè)器件的瓊斯矩陣，進(jìn)而獲得器件插損、色散、偏振相關(guān)損耗、偏振模色散等光學(xué)參數(shù)。該產(chǎn)品采用獨(dú)特光路設(shè)計(jì)以及先進(jìn)算法，實(shí)現(xiàn)智能校準(zhǔn)，操作簡(jiǎn)單，極大節(jié)省測(cè)試時(shí)間。

光矢量分析儀（OCI-V）一經(jīng)推出就受到目標(biāo)用戶的好評(píng)，同時(shí)也不斷吸納市場(chǎng)反饋意見(jiàn)，專注設(shè)備創(chuàng)新升級(jí)，不斷優(yōu)化設(shè)備性能，以提供給客戶更優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品。

而作為國(guó)產(chǎn)業(yè)內(nèi)的先驅(qū)者企業(yè)東隆科技自研的光矢量分析儀于近日推出損耗80dB高動(dòng)態(tài)范圍測(cè)試選項(xiàng)。如下圖所示：

產(chǎn)品特點(diǎn)

? 自校準(zhǔn)

? 測(cè)量長(zhǎng)度：200m

? 波段：C+L、O波段（可選）

? 1秒內(nèi)測(cè)量多種光學(xué)參數(shù)

產(chǎn)品應(yīng)用

? 平面波導(dǎo)器件

? 硅光器件

? 光纖器件

? 波長(zhǎng)可調(diào)器件、放大器、濾波器

測(cè)試參數(shù)

? 偏振相關(guān)損耗PDL

? 偏振模色散PMD

? 插損IL

? 群延時(shí)GD

? 色散CD

? 瓊斯矩陣參數(shù)

? 光學(xué)相位

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