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擁有高通量和高準(zhǔn)確性的光纖光譜儀介紹-萊森光學(xué)深圳

2022-06-14 10:50 作者:萊森光學(xué)  | 我要投稿

待測光通過光纖導(dǎo)入輸入端口,內(nèi)置圖像傳感器將測得的光譜從USB端口輸出到PC進(jìn)行數(shù)據(jù)采集。

光纖光譜儀隨機(jī)提供了評估軟件,允許設(shè)置測量條件,獲取和保存數(shù)據(jù),并顯示圖形。

01

特點

●?石英型透射光柵可以實現(xiàn)高通量●?高精度的光學(xué)特性●?易于安裝的緊湊型設(shè)計●?波長轉(zhuǎn)換因子記錄在內(nèi)存中

02

應(yīng)用

●?水體成分測試

●?光通信元件測試

●?膜厚測量

03

光路示意圖

光纖光譜儀將石英制透射全息光柵和精密光學(xué)元件安裝于穩(wěn)定的光學(xué)基座,為其提供了高通量和高準(zhǔn)確性。

特點

光譜分辨率與波長對應(yīng)關(guān)系

04

線性度

05

暗噪聲與溫度關(guān)系

06

待測光通過光纖導(dǎo)入入口,內(nèi)置圖像傳感器測得的光譜通過USB口輸出到PC機(jī)進(jìn)行數(shù)據(jù)采集。

裝置內(nèi)部沒有活動部件,因此始終可以獲得穩(wěn)定的測量值。利用光纖將測試光引入光譜儀,可以進(jìn)行各種光譜測試。

07

測試示例

膜厚測量(白光干涉法)

10um食品包裝膜(聚偏二氯乙烯)

通過測量薄膜前后面之間的光反射形成的干涉譜,再結(jié)合譜峰強(qiáng)度,波長范圍,薄膜折射率以及入射光角度,即可得到薄膜的厚度。

膜厚測試原理:

通過測量薄膜前后面之間的光反射形成的干涉譜,再結(jié)合譜峰強(qiáng)度,波長范圍,薄膜折射率以及入射光角度,即可得到薄膜的厚度。那么以上就是有關(guān)擁有高通量和高準(zhǔn)確性的光纖光譜儀介紹了,有需求請聯(lián)系我們~

萊森光學(xué)(深圳)有限公司是一家提供光機(jī)電一體化集成解決方案的高科技公司,我們專注于光譜傳感和光電應(yīng)用系統(tǒng)的研發(fā)、生產(chǎn)和銷售。


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