在做透射電子顯微鏡（TEM測試）時(shí)，科學(xué)指南針檢測平臺(tái)工作人員在與很多同學(xué)溝通中了解到，大多數(shù)同學(xué)對tem測試儀器不是很理解，針對此，科學(xué)指南針檢測平臺(tái)團(tuán)隊(duì)組織相關(guān)同事對網(wǎng)上海量知識(shí)進(jìn)行整理，希望可以幫助到科研圈的伙伴們；

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1.日本電子JEM-F200場發(fā)射透射電子顯微鏡

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圖1 JEM-F200場發(fā)射透射電子顯微鏡

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日本電子JEM-F200 (HR)是一款新型的冷場發(fā)射電子顯微鏡。JEM-F200配備的SpecPorter系統(tǒng)，將樣品桿安裝在指定的位置上，只用一個(gè)按鈕即能安全地插入或拔出。

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2.日本電子JEM-ARM300F GRAND ARM透射電子顯微鏡

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圖2 球差校正透射電鏡JEM-ARM300F

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球差校正透射電鏡JEM-ARM300F（圖2），也稱為GRAND ARM，是一款300 kV原子分辨率級透射電子顯微鏡，是JEM-ARM200F的升級版，采用日本電子獨(dú)自研發(fā)的十二級像差校正器，分辨率達(dá)到0.05 nm，STEM-HAADF的分辨率可達(dá)0.063 nm。

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3.美國FEI Tecnai G2透射電子顯微鏡

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圖3 Tecnai G2 F20 S-TWIN

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Tecnai G2 F20 S-TWIN（圖3）是由FEI公司開發(fā)的多功能、多用戶環(huán)境的200 KV場發(fā)射透射電子顯微鏡。它將各種透射電鏡技術(shù)（包括TEM、SAD、STEM、EDX等）方便靈活地有機(jī)組合，形成強(qiáng)大的分析功能。

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4.美國FEI Krios G4 (300 kV) 冷凍透射電子顯微鏡

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圖2-4 Krios G4 冷凍透射電鏡圖

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Thermo Scientific Krios G4 冷凍透射電子顯微鏡（Cryo-TEM）（圖2-4）是目前世界最先進(jìn)的全自動(dòng)電子顯微鏡，與同類產(chǎn)品相比，Krios G4造型設(shè)計(jì)更加小巧，通過對機(jī)械底座框架和設(shè)備外殼進(jìn)行全面的重新設(shè)計(jì)，使顯微鏡的高度降低至3米以內(nèi)，適用于天花板高度最低為3.04 m（~10英尺）的實(shí)驗(yàn)室。

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