編輯 | 環(huán)儀儀器

一、產(chǎn)品簡介：

MINI芯片高溫高濕試驗機是一種專門用于對MINI芯片進行高溫高濕環(huán)境下的可靠性測試的設備。它提供了恒溫恒濕的環(huán)境，并能夠模擬芯片在高溫高濕條件下的工作環(huán)境，以評估芯片的性能和可靠性。

二、產(chǎn)品用途：

MINI芯片高溫高濕試驗機可以模擬MINI芯片在實際工作環(huán)境中所面臨的高溫高濕條件，評估其性能和可靠性。這有助于優(yōu)化MINI芯片的設計和制造過程，提高其穩(wěn)定性和可靠性，從而提升產(chǎn)品質量和用戶體驗。

三、滿足標準：

GB/T 4937.42-2023 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第42部分：溫濕度貯存

IEC 60749-42:2014

JEDEC JESD22-A100E：2020 循環(huán)溫度-濕度-偏差與表面凝結壽命測試

JEDEC JESD22-A101D.01：2021 穩(wěn)態(tài)溫度-濕度偏差壽命測試

EIAJ ED-4701 100：2001 半導體器件的環(huán)境和耐久性試驗方法

四、技術參數(shù)：

溫度范圍：低溫0℃~70℃，低可達-150℃；高溫150℃，高可達200℃。

濕度范圍：20~98%R.H，可根據(jù)要求訂做至10~98%R.H

溫度波動度：±0.5℃溫度均勻度:±2℃

升溫速率:＞3℃/min

降溫速率:＞1℃/min 最快可達5℃/min

濕度波動度:±3%R.H

濕度均勻度:±2.5%R.H

五、技術特點：

將待測試產(chǎn)品放置于試驗箱內(nèi)，通過控制屏調(diào)控試驗箱內(nèi)的溫度與濕度對測試產(chǎn)品進行試驗，在試驗過程中，通過控制屏調(diào)節(jié)內(nèi)箱的溫度，使得內(nèi)箱的溫度與試驗腔的溫度不一致，當內(nèi)箱的溫度與試驗腔的溫度不一致時，不易產(chǎn)生水滴，且通過擋板的設置，擋板也可以擋住水滴避免水滴下滴，避免破壞正在測試的產(chǎn)品，保證了試驗結果的準確性。

如有產(chǎn)品選型疑問，可以訪問“環(huán)儀儀器”官網(wǎng)，向工作人員獲取技術方案。