項(xiàng)目背景

　　蘇州某研究院需要實(shí)現(xiàn)對(duì)數(shù)字萬(wàn)用表3458A 的控制以及電阻數(shù)據(jù)的采集，要求數(shù)據(jù)的采集速度為1S采集一百個(gè)點(diǎn)，并可實(shí)時(shí)顯示時(shí)間和電阻值的曲線圖，測(cè)試完成后數(shù)據(jù)以word的形式導(dǎo)出，目前的數(shù)據(jù)采集方式不能滿足以上需求。

納米軟件Namisoft提供的解決方案如下

　　納米軟件Namisoft根據(jù)客戶(hù)需求設(shè)計(jì)的該款數(shù)字萬(wàn)用表自動(dòng)采集軟件，依托納米軟件Namisoft自主研發(fā)的ATECLOUD智能云測(cè)試平臺(tái)，通過(guò)連接設(shè)備——?jiǎng)?chuàng)建項(xiàng)目——方案編輯——啟動(dòng)測(cè)試——導(dǎo)出報(bào)告等簡(jiǎn)單步驟，即可直觀顯示測(cè)試結(jié)果及隨時(shí)間變化測(cè)量的電阻值，平臺(tái)支持一鍵進(jìn)行圖文切換，滿足了用戶(hù)提出的曲線圖需求。

基于硬件

　　數(shù)字萬(wàn)用表、電阻

軟件部分

　　ATECLOUD智能云測(cè)試平臺(tái)

具體的測(cè)試流程

　　1、連接設(shè)備，登錄ATECLOUD智能云測(cè)試平臺(tái)。

　　2、創(chuàng)建測(cè)試項(xiàng)目。創(chuàng)建項(xiàng)目名稱(chēng)為電阻持續(xù)測(cè)量的項(xiàng)目，并在右側(cè)添加本次測(cè)試需要用到的測(cè)試儀器數(shù)字萬(wàn)用表，并對(duì)其型號(hào)進(jìn)行配置。ATECLOUD平臺(tái)支持1000+品牌商儀器，支持1000+儀器種類(lèi)，支持2000+儀器型號(hào)，用戶(hù)可直接在儀器庫(kù)進(jìn)行儀器名稱(chēng)的搜索即可添加。

　　3、測(cè)試工步編輯。在編輯測(cè)試工步界面，ATECLOUD云測(cè)試平臺(tái)采用圖標(biāo)拖拽測(cè)試流程代替編程語(yǔ)言，讓用戶(hù)可以快速上手，快速進(jìn)行測(cè)試工步的搭建工作。如下為電阻持續(xù)測(cè)量的工步圖。

　　4、編輯測(cè)試方案。在此界面對(duì)測(cè)試方案進(jìn)行最后的信息完善。

　　5、啟動(dòng)測(cè)試。輸入產(chǎn)品編號(hào)后，啟動(dòng)測(cè)試，即可看到隨時(shí)間變化數(shù)字萬(wàn)用表自動(dòng)測(cè)量的電阻值。

　　從數(shù)值模式可自由切換圖表模式，即可實(shí)時(shí)顯示時(shí)間和電阻值的曲線圖。

　　6、導(dǎo)出測(cè)試報(bào)告。ATECLOUD云測(cè)試平臺(tái)提供豐富算法模型，用戶(hù)可自定義報(bào)告模板，一鍵導(dǎo)出高質(zhì)量的分析報(bào)告。

　　以上方案一經(jīng)交付，客戶(hù)表示極大提高了測(cè)試效率，同時(shí)詳細(xì)的測(cè)量報(bào)告也對(duì)數(shù)據(jù)分析提供了很大的便利。

ATECLOUD智能云測(cè)試平臺(tái)的常見(jiàn)應(yīng)用：

　　1、儀器程控

　　各品牌示波器、萬(wàn)用表、源表、電源、信號(hào)發(fā)生器、頻譜儀等單臺(tái)或多臺(tái)程控；

　　2、電子元器件自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)

　　二極管、三極管、場(chǎng)效應(yīng)管等性能/老化測(cè)試；

　　3、多通道數(shù)據(jù)采集測(cè)試系統(tǒng)

　　系統(tǒng)可程控多臺(tái)PICO示波器完成多通道數(shù)據(jù)的高速采集；

　　4、電源模塊自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)

　　系統(tǒng)可程控電源、電子負(fù)載、示波器、萬(wàn)用表、功率計(jì)等測(cè)試電源的相關(guān)參數(shù)；

　　5、LCR自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)

　　系統(tǒng)程控LCR表及繼電器等測(cè)試電阻、電容、電感等參數(shù)；

　　6、非標(biāo)定制

　　根據(jù)用戶(hù)需求非標(biāo)定制測(cè)試項(xiàng)目