本集提綱：雙光束干涉條紋不夠細(xì)銳→條紋精細(xì)度→位相差半寬度→法布里珀羅干涉儀→法布里珀羅干涉儀應(yīng)用

續(xù)上一集，本集是平行平板的多光束干涉，邁克爾遜干涉儀已達(dá)到雙光束干涉的高峰。但薄膜光學(xué)真正走向精密的還得看鍍膜。精密意味著條紋的細(xì)銳，否則條紋粗糙了肯定就碼了。

知識(shí)點(diǎn)1、條紋的精細(xì)度

?????? 條紋的細(xì)銳程度以條紋精細(xì)度描述：定義：相鄰兩（亮）條紋間的位相差距離（2π）和條紋位相差半寬度（△δ）之比，記為F的花體。

?????? 引出了另一個(gè)概念：條紋的位相差半寬度。首先，明確位相差是個(gè)角，位相差寬度/距離也是相位角，不是長度。其次，條紋位相差全寬度就是相鄰兩明條紋間的位相差2π，但半寬不是π，半寬當(dāng)π用的時(shí)候是比較碼的雙光束干涉，明暗條紋一樣粗細(xì)，現(xiàn)在是多光束干涉，明條紋是細(xì)銳的。

?????? 條紋的位相差半寬度定義：條紋中強(qiáng)度等于峰值一半的兩點(diǎn)相位間距離。它是用強(qiáng)度定義的，找張示意圖：

如圖越是細(xì)銳的脈沖，其位相差半寬度越窄。位相差半寬度即為△δ。

???? 對(duì)于第m級(jí)條紋，條紋中心峰值強(qiáng)度點(diǎn)的位相是2mπ，則該點(diǎn)到兩側(cè)半強(qiáng)度點(diǎn)的相位差是2mπ±△δ/2，把該位相差關(guān)系式代入到透射光干涉場(chǎng)的光強(qiáng)公式中（因?yàn)橥阜椿パa(bǔ)，反射場(chǎng)是細(xì)黑條紋，不利于測(cè)量，所以只有透射光條紋實(shí)用），這個(gè)光強(qiáng)公式和化簡結(jié)果都比較難看，我建議直接記近似處理后的結(jié)論：

由上式可見，平板表面的反射率R（R<100%）越大，即透射光能量占比越少，條紋越細(xì)銳。通常兩光束干涉儀的讀數(shù)精確度為條紋間距的1/10，而多光束干涉條紋可以到1/100甚至1/1000——引用自梁銓廷《物理光學(xué)》第4版。

?????? 這個(gè)提高透反率的有效手段就是鍍膜。

知識(shí)點(diǎn)2、法布里珀羅干涉儀裝置原理圖

?????? 法布里珀羅干涉儀（F-P干涉儀）最為典型的多光束干涉儀。F-P干涉儀由兩塊互相平行、內(nèi)表面鍍?cè)龇茨さ钠矫娌ＡЩ蚧蚴褰M成。這倆板子特意做成楔角型，以讓反射光和透射光互不干擾，透射光最終出射到透鏡L2。若透鏡L2的光軸和干涉儀的板面垂直，則在透鏡L2的焦平面為定域面，可觀察到一組同心等傾環(huán)。F-P干涉儀的等傾干涉條紋是位相差的函數(shù)，其中條紋細(xì)銳程度這一指標(biāo)是多光束干涉與雙光束干涉最顯著的不同。

知識(shí)點(diǎn)3、法布里珀羅干涉儀的應(yīng)用之F-P標(biāo)準(zhǔn)具測(cè)波長差

?????? F-P是我們目前接觸到最精密的光學(xué)干涉儀，精密到可以用來測(cè)量波長相近的兩條光譜線的細(xì)微差距，即所謂的超精細(xì)結(jié)構(gòu)，而普通的棱鏡光譜儀和光柵光譜儀均不能勝任。在這一節(jié)，有若干公式：

似乎有些多，整理一下子：

知識(shí)點(diǎn)4、激光器諧振腔與F-P標(biāo)準(zhǔn)具

?????? 或者說濾光器的選頻。不過這事應(yīng)該不在我們學(xué)的波動(dòng)光學(xué)里展開。

知識(shí)點(diǎn)5、光學(xué)薄膜簡述

?????? 這個(gè)薄膜光學(xué)也許是民用光學(xué)里能掙錢的一支，比如eyeglasses店是暴利利潤率干個(gè)大百分之幾百，有人開平價(jià)eyeglasses店被同行za了。

?????? 相機(jī)鏡頭的彩色是由于鏡頭鍍膜，主要是為了增透減少光能損失。除了增透膜還有增反膜。但我覺得它應(yīng)該在波動(dòng)光學(xué)里非主流，因?yàn)樗难芯刻攸c(diǎn)主要是幾何光學(xué)的形式，主要用矩陣語言描述。

干涉暫且告一段路，下一集更衍射。