光纖微裂紋檢測儀(OLI)測試原理及案例分享

OLI是一款低成本高精度光學(xué)鏈路診斷系統(tǒng)。其原理基于光學(xué)相干檢測技術(shù),利用白光的低相干性可實現(xiàn)光纖鏈路或光學(xué)器件的微損傷檢測。通過讀取最終干涉曲線的峰值大小,精確測量整個掃描范圍內(nèi)的回波損耗, 進(jìn)而判斷此測量范圍內(nèi)鏈路的性能。
該系統(tǒng)輕松查找并精準(zhǔn)定位器件內(nèi)部斷點、微損傷點以及鏈路連接 點。其事件點定位精度高達(dá)幾十微米,最低可探測到-80dB光學(xué)弱信號,?廣泛用于光纖或光器件損傷檢測以及產(chǎn)品批量出貨合格判定。
針對光纖微裂紋檢測儀(OLI)我們有了初步的認(rèn)識,那它在實際應(yīng)用中有哪些特點?
測試原理
光纖微裂紋檢測儀(OLI)基于光學(xué)相干檢測技術(shù)與光外差檢測技術(shù)相結(jié)合,其基本原理如下圖所示。

圖1. OLI光纖微裂紋檢測基本原理
光源發(fā)出寬帶連續(xù)光被耦合器分為兩路,其中一束作為參考光,另一束作為探測信號光發(fā)射到待測光纖中。探測光在光纖中向前傳播時會不斷產(chǎn)生回波信號,這些回波信號光與參考光經(jīng)過反射鏡后反射回耦合器發(fā)生拍頻干涉,并被光電探測器檢測。電機(jī)控制反射鏡Z移動進(jìn)而改變參考光光程。
光電探測器檢測到的光電流可以表示為:

其中,β為光電轉(zhuǎn)換系數(shù)。上述表達(dá)式中前三項均被濾除(兩項為直流項,一項為高頻項),只剩最后的拍頻項。WL-WS為拍頻頻率fb,通過設(shè)計帶通光電轉(zhuǎn)換電路,檢測拍頻信號。

圖2. OLI距離-反射率曲線
依照光干涉理論,要發(fā)生干涉現(xiàn)象,其光程差需在相干長度范圍內(nèi),而寬譜光的相干長度非常短,當(dāng)反射鏡移動時,從DUT返回的回波信號與反射鏡相等距離的反射信號發(fā)生拍頻。通過處理最終的拍頻信號,DUT鏈路上每點反射回來信號的強(qiáng)度可以映射為該點的反射率(即曲線縱坐標(biāo)),DUT的實際干涉位置對應(yīng)反射鏡Z移動的相應(yīng)距離(即曲線橫坐標(biāo)),從而形成了OLI距離-反射率曲線。
測試案例
//案例1:測量FC/APC接頭

圖3. 蓋緊的防塵帽

圖4. 測試結(jié)果
防塵帽蓋緊測量結(jié)果顯示三個峰,第一個峰為FC/APC接頭端面反射、第二個峰和第三個峰為防塵帽尾端兩個反射,如圖5所示。第一個峰和第二個峰之間相距1.47mm。

圖5.?峰值示意圖

圖6.?防塵帽向后移動
向后移動防塵帽,測試結(jié)果如圖7所示有三個峰,后兩個峰值有所降低,因為光在空氣中傳輸距離變長,損耗變大,第一個峰和第二個峰間距變?yōu)?.40mm,第二個峰和第三個峰的距離不變,峰值位置符合上述分析。


圖7.?測試結(jié)果
以上峰值間距在折射率為n?=1.467(設(shè)備默認(rèn)折射率)下測得,則防塵帽向后移動距離L?=(3.40mm-1.47mm)=1.93mm,但光在空氣傳播,折射率為n?=1,所以防塵帽實際向后移動距離L?=L?*n?/n?=2.83mm。
//案例2:G-lens長度測量

圖8.?單波長漸變折射率透鏡與插芯耦合示意圖
端面為斜8°的單波長漸變折射率透鏡(G-lens)與帶光纖的插芯耦合在一起,測量G-lens長度。

圖9. 實際示意圖

圖10. OLI測量結(jié)果
測試結(jié)果如圖10所示,第一個峰值為插芯與G-lens耦合面反射峰,第二個峰值為G-lens尾端反射峰,測試結(jié)果中dx=2.9mm為G-lens光程長度,是在折射率為n?=1.467(設(shè)備默認(rèn)折射率)下測得,而G-lens的實際折射率為n?=1.6,則G-lens的實際長度為L=dx*n?/n?=2.66mm。
結(jié)論
光纖微裂紋檢測儀(OLI)可以精確定位整個掃描范圍內(nèi)的回波損耗,實現(xiàn)微米級光纖鏈路或光學(xué)器件的微損傷檢測。