1.測(cè)量比表面積時(shí)測(cè)量時(shí)間過(guò)長(zhǎng)是樣品的原因嗎？在規(guī)定的時(shí)間內(nèi)沒(méi)有測(cè)量嗎？

答案：測(cè)試時(shí)間與測(cè)試頻率有關(guān)。測(cè)試掃描頻率越大，掃描速度越快，使用時(shí)間越短，反之亦然。

2.測(cè)量二維mxene納米片樣品濃度的要求是什么？

答案：無(wú)固定值，比TEM濃度稍濃，通過(guò)觀察容溶液的顏色確定，確定適當(dāng)?shù)某暋糁脮r(shí)間以保證分散效果，否則納米片試樣不均勻。

3.薄膜試驗(yàn)如何制樣保證平整？

答案：薄膜應(yīng)盡可能小，以避免貼片過(guò)程中起泡。

4. PFM一般用什么探針？

答案：導(dǎo)電探針就可以了，推薦SCM-Pit系列探針

5.用氮吹、干燥、冷凍干燥哪種方法好？

答案：氮?dú)獯祾咭话阍诟稍锖?，上述兩種干燥方式差別不大。

6. 如何判斷setpoint的設(shè)置是100%？

答案：根據(jù)選擇的測(cè)試類(lèi)型設(shè)置具體的setpoint，接觸模式和峰值力敲擊模式的setpoint與力的關(guān)系成正比，敲擊模式的setpoint與力的關(guān)系成為拋物線關(guān)系，一般選擇自由振幅的80%，自由振幅已知。

7. 如何測(cè)試單層石墨烯二維材料的厚度？

答案：DMF是溶劑，超聲波超過(guò)半小時(shí)，靜置10分鐘，將液體滴入或旋涂于云母或硅片基底，適當(dāng)溫度干燥，氮?dú)獯祾吆蠹纯蓽y(cè)試。

8. afm能控制溫度嗎？

答案：AFM目前不能控制溫度，需要定制溫度控制系統(tǒng)。

9.粉末分散液滴到云母片上，云母片的尺寸是否小于200mm，如果是幾微米左右可以測(cè)量？

答案：一般云母的直徑是1cm，樣品臺(tái)的尺寸是200mm，實(shí)際上AFM的測(cè)量范圍是很小的，用1cm左右大小的襯底完全符合測(cè)試要求。

10. 腐蝕性樣品可以做afm嗎？

答案：可以，但是要保證樣品表面波動(dòng)在微米以下。

免責(zé)聲明：部分文章整合自網(wǎng)絡(luò)，因內(nèi)容龐雜無(wú)法聯(lián)系到全部作者，如有侵權(quán)，請(qǐng)聯(lián)系刪除，我們會(huì)在第一時(shí)間予以答復(fù)，萬(wàn)分感謝。