近年來，工業(yè)CT在尺寸測量領(lǐng)域經(jīng)歷了獨特的發(fā)展與進步，使得許多原本復(fù)雜的測試任務(wù)得到合理的解決，與光學(xué)CMM測量技術(shù)相比越來越具有競爭力。在測量領(lǐng)域，工業(yè)CT技術(shù)的最大優(yōu)勢在于可以對產(chǎn)品的內(nèi)外結(jié)構(gòu)和尺寸進行無損測量，一次掃描即可同時完成產(chǎn)品的尺寸檢測與材料質(zhì)量控制，這是工業(yè)CT在傳統(tǒng)工業(yè)測量領(lǐng)域建立了獨特的優(yōu)勢，相比于傳統(tǒng)接觸式的或光學(xué)設(shè)備的難以探測內(nèi)部結(jié)構(gòu)的掃描方式，使用工業(yè)CT技術(shù)將是一個理想的解決方案。但是，由于工業(yè)CT測量過程受很多復(fù)雜因素影響，目前為止對于工業(yè)CT設(shè)備的測量精度及置信度尚無法給出確切的回答，這也成為限制工業(yè)CT測量技術(shù)發(fā)展的瓶頸。因此,填補現(xiàn)有工業(yè)CT系統(tǒng)在測量精度及置信度表征領(lǐng)域的空白，為科研生產(chǎn)提供可信及可追溯性工業(yè)CT測量數(shù)據(jù)具有重要意義。

工業(yè)CT測量誤差主要來源分析可以從以下幾個方面著手，尤其需要注意的是在利用高精度外部尺寸測量結(jié)果對工業(yè)CT數(shù)據(jù)進行校準(zhǔn)時，尤其對于使用平板探測器的系統(tǒng)來說，需要校準(zhǔn)的尺寸應(yīng)包含樣品X-Y和X-Z兩個平面(即平行和垂直與探測器的平面)，工業(yè)CT數(shù)據(jù)在這兩個方向上單個像素尺寸往往并不相等，這取決于重建矩陣的選擇。故在工業(yè)CT掃描過程中，應(yīng)盡量避免樣品放置時上下端面與射線平行，或者說應(yīng)該盡量避免樣品上下端面垂直于旋轉(zhuǎn)軸，否則導(dǎo)致樣品上下端面應(yīng)采樣不足，帶來SDK重建為引，消除因采樣不足導(dǎo)致的重建為引可以通過改變樣品的放置方式來解決，例如以15度放置。

從投影重建圖像過程中，最主要的影響因素來自于射線硬化及射線散射帶來的圖像，硬化和散射偽影，導(dǎo)致圖像灰度分布，偏離真實分布，給后續(xù)測量及閾值風(fēng)格帶來困難，這些偽影如果不經(jīng)過適當(dāng)?shù)男Ｕ?，會?dǎo)致測量的可靠性降低。

一般來說減弱射線硬化影響，可以通過在采集數(shù)據(jù)時放置前置濾波板來調(diào)節(jié)，也可以通過后續(xù)硬化校正算法來改善。

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