最近很多客戶都在詢BGA144pin的老化測試座，今天對該款BGA144pin老化座做個簡單的分析（因為BGA144pin封裝芯片有多種用途，該需求分析僅做參考）

根據(jù)谷易電子客戶需求分析：首先是老化測試，分別是室溫30℃ 30小時測試，這個可以集成到調(diào)試和常規(guī)測試上，再就是商用級測試-45~125℃ 100小時測試，這個需要根據(jù)測試座的設(shè)計圖紙來設(shè)計老化測試板；

其次是性能調(diào)試，由于這是一款入門級的一體便攜式處理器，其頻率，低功耗，對探針的要求也不高，使用常規(guī)的測試探針匹配即可；

最后，程序編譯后寫入芯片，需要對應(yīng)的確認相應(yīng)的接口，目前這個芯片開放了串口，UART接口等，在測試座安排全144pin的前提下，對應(yīng)用戶設(shè)計相應(yīng)的燒錄用途轉(zhuǎn)接板即可，也可在原有測試板的基礎(chǔ)上集成該接口，能通過外部編程器連接并予以燒錄調(diào)試。

BGA144pin封裝芯片老化座規(guī)格：

測試芯片封裝類型：BGA

測試芯片引腳：144pin

測試芯片引腳間距：1.27mm

測試芯片尺寸：15×15mm

測試芯片厚度：5.05mm

BGA144pin封裝芯片老化測試（客戶要求）：

老化測試溫度：-45°~+125°

老化測試時長：單次老化時長：96小時

老化測試電流：不超過300mA

測試頻率：不超過3Ghz

測試電壓：20v

老化測試座結(jié)構(gòu)：旋鈕翻蓋式

老化測試座材料：合金

制作方式：加工定制

在與工程師溝通確認測試要求等各項參數(shù)時需要把以上測試信息標注清楚或注明（注：微）icsocket66888