【ImageJ】處理電鏡粒徑的一系列教程
【ImageJ】如何統(tǒng)計(jì)電鏡粒徑，繪粒徑分布
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The following article is from Paper繪圖?Author 超級super棟
導(dǎo)言在前面，我們推出過一期電鏡圖片粒徑分布圖【點(diǎn)擊閱讀】Origin繪圖：采用高斯方程對碳量子點(diǎn)TEM粒徑分布柱狀圖的擬合
隨著origin版本的升級，很多類型的繪圖功能會集成在高版本中。以前低版本中繪圖需要很多步驟，但在高版本中，只需要一步。另外，不少讀者提問，怎樣從電鏡圖片中測算粒徑分布，請看這篇教程。
作者：超級Super棟
制劑的電鏡圖，是我們在論文或者實(shí)驗(yàn)中經(jīng)常見到的圖。所以，我們今天的教程是如何使用ImageJ對電鏡圖中的納米粒進(jìn)行粒徑的整體測量，以及如何使用Origin對其進(jìn)行作圖。
軟件ImageJ
Origin 2019b
圖文教程此教程分為兩個(gè)部分，首先使用ImageJ進(jìn)行粒徑的測量，然后使用Origin進(jìn)行作圖。ImageJ粒徑測量1. 使用ImageJ打開圖片
2.?使用直線工具，標(biāo)記標(biāo)尺
3.?設(shè)定標(biāo)尺：菜單欄-Analyze-Set scale
4.?只需要寫上右下角的標(biāo)尺的單位，點(diǎn)擊OK，就會發(fā)現(xiàn)圖片上方變化了
5.?然后點(diǎn)擊ROI manger
6.?然后我們在粒子的直徑上畫一個(gè)橫線，點(diǎn)擊add it?？梢渣c(diǎn)擊顯示全部和標(biāo)記，這樣標(biāo)記了的就可以顯示出來，避免二次標(biāo)記，這里我選擇20個(gè)用來演示。
7.?點(diǎn)擊測量
8.?所有的長度就顯示出來了
Origin作圖1. 打開origin，復(fù)制進(jìn)來所有所測量的粒徑數(shù)據(jù)
2.?選中數(shù)據(jù)，點(diǎn)擊作圖(選擇分布圖)
3.?我們來看一下形成的基礎(chǔ)圖
4.?對其美化一下
5.?最后，我們可以將兩幅圖組合在一起。
用Image J軟件統(tǒng)計(jì)電鏡圖片中納米顆粒的粒徑
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Image J 軟件占據(jù)空間小，免安裝，用來計(jì)算電鏡照片中納米顆粒的粒徑，尤其是圓形納米顆粒，很方便，時(shí)間久了這種數(shù)據(jù)處理步驟很容易忘記，放在這里留作備份。
1.直接點(diǎn)擊圖標(biāo)
打開工具條
；
2.打開圖片：File/open/找到目標(biāo)文件打開；
；
3.設(shè)置標(biāo)尺：點(diǎn)擊工具條上放大鏡，左擊標(biāo)尺部分放大，選擇直線工具，點(diǎn)住標(biāo)尺一端不放拖動劃線至另一端，Analyse/Set Scale在跳出對話框中填寫信息（如是圓形納米顆粒，可勾選Global）；
4.粒子填色：選擇圓形工具，按住ctrl鍵，套住某一納米顆粒畫圓，ctrl+F填黑；
5.調(diào)整襯度：所需要的納米顆粒全部填黑之后，工具條下Image/type調(diào)整為8-bit,Ajust/Threshold,選擇Black&white,set 0 & 0;
6.粒徑統(tǒng)計(jì)：Analyze/Analyse Particles/對話框中設(shè)置參數(shù)（選擇outlines,OK 之后就會顯示所有目標(biāo)顆粒的輪廓，有利于查看統(tǒng)計(jì)情形）；
6.粒徑分析：Analyze/distribution/設(shè)置粒徑分布范圍如0-10 nm和作圖分割單元如10（統(tǒng)計(jì)每隔1納米之間的納米顆粒個(gè)數(shù)），那么軟件自動對結(jié)果進(jìn)行分析，做出柱狀圖，橫坐標(biāo)為納米，縱坐標(biāo)為個(gè)數(shù)，結(jié)果顯示最大粒徑最小粒徑及平均粒徑等信息，copy結(jié)果到origin作圖即可。
