供應(yīng)Sinton BCT-400/BLS-I少子壽命測(cè)量?jī)x套件
一、公司介紹:
Sinton Instruments 最初由 Ron Sinton 于 1992 年作為 Sinton Consulting 成立,致力于開發(fā)和應(yīng)用新工具和分析,以用于硅太陽(yáng)能電池和集成電路的研發(fā)和制造。Sinton的目標(biāo)是使最先進(jìn)的設(shè)備物理和測(cè)量成為常規(guī)使用。Sinton通過提供物理上嚴(yán)格、簡(jiǎn)單且具有成本效益的測(cè)量工具和分析,為研發(fā)和制造過程控制中的實(shí)際問題開發(fā)解決方案。擁有有 600 多臺(tái)少子壽命測(cè)量?jī)x器在世界各地使用。Sinton這些儀器的結(jié)果通常是研發(fā)和工業(yè)出版物的核心內(nèi)容,并已成為全球?qū)嶒?yàn)室事實(shí)上的校準(zhǔn)壽命測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)。Sinton Instruments?通過大學(xué)和工業(yè)界的合作,保持并擴(kuò)展了在硅器件物理、測(cè)試和測(cè)量、磚材料和硅器件加工方面的實(shí)踐經(jīng)驗(yàn),以便為每個(gè)新應(yīng)用帶來最好的儀器設(shè)計(jì)和分析軟件。

二、Sinton Instruments產(chǎn)品概覽:
1、Sinton BCT-400少子壽命測(cè)量?jī)x
Sinton BCT-400測(cè)量系統(tǒng)不需要做表面鈍化就能直接測(cè)量單晶和多晶硅(錠或塊)的少子壽命.Sinton BCT-400是基于渦流傳感器和紅外光致光電導(dǎo)方法直接測(cè)量單晶或者多晶硅棒體少子壽命的設(shè)備,具有瞬態(tài)和準(zhǔn)穩(wěn)態(tài)兩種測(cè)量模式。Sinton設(shè)備可探測(cè)3mm 深度范圍少子壽命,并能輸出不同載流子注入水平下的少子壽命值,可實(shí)現(xiàn)低電阻率硅單晶少子壽命測(cè)量,并能通過軟件端光強(qiáng)偏置實(shí)現(xiàn)單晶缺陷密度計(jì)算。
2、Sinton BLS-I少子壽命測(cè)量?jī)x
BLS-I測(cè)量系統(tǒng)用于硅、鍺單晶的少數(shù)載流子壽命測(cè)量,除需要有一個(gè)測(cè)量平面外,對(duì)樣塊 體形無嚴(yán)格要求,可測(cè)塊狀和片狀單晶壽命。Sinton BLS-I少子壽命測(cè)量?jī)x可靈敏地反映單晶體 內(nèi)重金屬雜質(zhì)污染及缺陷存在的情況,是單晶質(zhì)量的重要檢測(cè)項(xiàng)目。
需要了解產(chǎn)品,請(qǐng)根據(jù)圖片聯(lián)系方式來電咨詢
3、BLS 和 BCT-400測(cè)景系統(tǒng)無需表面化即可對(duì)單昆硅或多晶硅(硅或硅磚)進(jìn)行整體壽金測(cè)量、由于壽金測(cè)是是表征生長(zhǎng)和污染缺陷的最敏感技術(shù)之一,因此這些工具可讓您在生長(zhǎng)后直接評(píng)估硅質(zhì)量。
(1)為了靈活地測(cè)量所有表面類型(從150 毫米直徑到平面),請(qǐng)選擇Sinton BLS;
(2)對(duì)于僅設(shè)計(jì)用于測(cè)量平面的緊湊型工具,請(qǐng)選擇 SintonBCT-400.
(3)SintonBCT-400也可以機(jī)械集成到自動(dòng)化站中,軟件可以設(shè)置為無縫自動(dòng)測(cè)量
三、主要應(yīng)用:
1.Sinton鑒定壽命在 1-10+毫秒范圍內(nèi)的高純度磚
2.Sinton合格的 B-Cz 硅生長(zhǎng),無需特殊表面處理
3.Sinton表征多晶塊中的壽命和陷阱戀度
四、其他應(yīng)用:
1.Sinton Instruments少子壽命儀可檢測(cè) BO 缺陷、Fe 污染和表面損傷
2.Sinton Instruments少子壽命儀可監(jiān)測(cè) Cz、FZ、多晶硅或 UMG 硅的初始材料質(zhì)量