當(dāng)一個產(chǎn)品無法通過 EMI 測試，首先就要有一個觀念，找出無法通過的問題點，此時千萬不能 有主觀的念頭，要在那些地方下對策。常常有許多有經(jīng)驗的EMI 工程師，由于修改過許多相關(guān) 產(chǎn)品，對于產(chǎn)品可能造成EMI 問題的地方也非常了解，而習(xí)慣直接就下藥方，當(dāng)然一般皆可能 非常有效，但是偶而也會遇到很難修改下來，最后發(fā)現(xiàn)問題的關(guān)鍵都是起行認(rèn)為不可能的地方 ，之所以會種疏失，就是由于太主觀了。因此，不論產(chǎn)品特性熟不熟，我們都要逐一再確認(rèn)一次 ，甚而多次確認(rèn)。這是因為造成EMI 的問題往往是錯綜復(fù)雜，并非單一點所造成。故反復(fù)的做 確認(rèn)及診斷是非常重要的。

將初步的診斷步驟詳列于下，并加以說明其關(guān)鍵點，這些步驟看來似乎非常平凡簡單，不像介紹對策方法各種理論秘籍絕招層出不窮，變化奧妙。其實，許多資深EMI 工程師在其對策處理時，大部份的時間都在重復(fù)這些步驟與判斷。筆者要再次強調(diào)，只有真正找到造成EMI 問題的關(guān)鍵，才是解決EMI 的最佳途徑，若僅憑理論推測或經(jīng)驗判斷，有時反而會花費更多的時間和精力。

?

步驟一：

?將桌子轉(zhuǎn)到待測（EUT）最大發(fā)射的位置，初步診斷可能的原因，并關(guān)掉EUT 電源加以確認(rèn)。 （說明）

?由于EMI 測試上，EUT 必須轉(zhuǎn)360 度而天線由1m 到4m 變化，其目的是要記錄輻射最大的 情況。同樣地，當(dāng)我們發(fā)現(xiàn)無法通過測試時，首先我們先將天線位置移到噪聲接收最大高度，然 后將桌子轉(zhuǎn)到最差角度，此時我們知道在EUT 面對天線的這一面輻射最強，故可以初步推測可能的原因，如此處屏蔽不佳或靠近輻射源或有電線電纜經(jīng)過等。

?另外須注意的是要關(guān)掉EUT 的電源，看噪聲是否存在，以確定噪聲確實是由EUT 所產(chǎn)生。曾見 測試Monitor 一直無法解決某一點的干擾，結(jié)果其噪聲是由PC 所造成而非Monitor 的問題， 亦有在OPEN SITE 測試Monitor? 發(fā)現(xiàn)某幾點無法通過，由測試接收儀器的聲音判斷應(yīng)是Monitor 產(chǎn)生，結(jié)果關(guān)掉電源發(fā)現(xiàn)噪聲依然存在，所以關(guān)掉EUT 電源的步驟是必須的，而且通 常容易被忽略。

?

步驟二：

?將連接EUT 的周邊電纜逐一取下，看干擾的噪聲是否降低或消失。

?若取下某一電纜而干擾的頻率減小或甚而消失，則可知此電纜已成為天線將機(jī)板內(nèi)的噪聲輻射 出來。事實上，仔細(xì)分析造成EMI 的關(guān)鍵，我們可以用一個很簡單的模式來表示。

?

任何EMI 的Source 必須要有天線的存在，才能產(chǎn)生輻射的情形，若僅單獨存在噪聲源而沒? 有天線的條件，此輻射量是很小的，若將其連接到天線則由于天線效應(yīng)便把能量輻射到空間。所? 以EMI 的對策除了針對噪聲源（Source)做處理外，最重要的查破壞產(chǎn)生輻射的條件----天線。 以往我們最?？吹秸凟MI 對策離不開屏蔽（Shielding),濾波（Filter),接地（Grounding)，對? 于接地往往一塊電路板多已固定，而無法再做處理，因為這一部份在電路板布線（Layout)時就? 須仔細(xì)考慮，若板子已完成則此時可變動的空間就非常小，一般方式僅能找出噪聲小的接地處? 用較粗的地線連接，減低共模（Common? mode)噪聲。屏蔽所牽涉的材質(zhì)與花費亦甚高，濾? 波的方式則是?？梢夿ead? 電感等，往往用了一大堆亦不甚見效，何以如此，許多時候是我們? 沒有解決其輻射的天線效應(yīng)。一般而言，噪聲的能量并不會因加一些對策組件便消失，也就是能? 量不減，? 我們所要做的工作是如何避免噪聲輻射到空間（輻射測試） 或由電源傳出（傳導(dǎo)測試）。 在此我們整理了產(chǎn)生輻射常見的幾種情形供讀者參考。

?（1）機(jī)器外部連接之電纜成為輻射天線

?由于機(jī)器本身外部所連接的電纜成為天線效應(yīng)，將噪聲輻射到空間，此時噪聲的大小和電纜 的長度有關(guān)，因電纜的天線效應(yīng)相對于噪聲半波長時共振情形會最大，也往往是造成EMI 無法 通過測試。在解決這個問題前必須要做一些判斷，否則很容易疏忽而浪費時間。

?（a）噪聲是由機(jī)器內(nèi)部電路板或接地所產(chǎn)生

?此情形為將電纜取下，或加一Core 則噪聲減低或消失。此時必須做的一個步驟是將線靠近機(jī)器 （不須直接連接）看噪聲是否會存在，若噪聲并沒有升高，則可確實判定由機(jī)器內(nèi)部產(chǎn)生，若將 電纜靠近而干擾噪聲馬上升高，由此時請參考（b）的說明。

?（b）噪聲是由機(jī)器內(nèi)部耦合到電纜線上，而使電纜成為輻射天線。

?這一點是許多測試工程師容易忽略的。此情形如（a）中所提到的，只要將一條電纜靠近，則可 從頻譜上看到噪聲立刻升高，此表示噪聲已不單純是由線上所輻射出，而是機(jī)器本身的噪聲能 量相當(dāng)大，一旦有天線靠近則立刻會耦合至天線而輻射出來。在實際測試中，我們發(fā)現(xiàn)許多通訊 產(chǎn)品有這類情形發(fā)生，此時若單純用Core 或Bead 去處理，并不能真正的解決問題。

?（2）機(jī)器內(nèi)部的引線，連接線成為輻射天線

由于許多產(chǎn)品內(nèi)部常有一些電線彼此連接工作廳，當(dāng)這些線靠近噪聲源很容易成為天線，將 噪聲輻射出去。針對此點的判斷，在 200MHz 以下之噪聲，我們可以在線上加一Core 來判斷 噪聲是否減低，而對于200MHz 以上之高頻噪聲，我們可以將線的位置做前后左右的移動，看 噪聲是否會增大或減小。

?（3） 電路板上的布線成為輻射天線

?由于走線太長或靠近噪聲源而本身被耦合成為發(fā)射天線，此種情形當(dāng)外部電纜都取下，而僅 剩電路板時，在頻譜儀上可看見噪聲依然存在，此時可用探棒測量電路板噪聲最強的地方，找 到輻射的問題加以解決。關(guān)于探測的工具及方法，將于后詳細(xì)說明。

?（4）電路 板上的組件成為輻射來源

由于所使用的IC 或CPU 本身在運作時產(chǎn)生很大的輻射，使得EMI 測試無法通過，卵石種情往 往在經(jīng)過（1） 、（2）、（3）的分析后噪聲依然存在，通常解決的方法不外換一個類似的組件 ，看EMI 特性是否會好一些。另外就是電路板重新布線時，將其擺放于影響最小的位置，也就 是附近 沒有I/O? Port? 及連接線等經(jīng)過 ， 當(dāng)然若情況允許， 將整個組件用金屬外殼包覆 （Shielding)也是一種快速有效的方法。

由以上的分析介紹我們可以了解，造成電磁干擾輻射最關(guān)鍵的地方就是電線的問題，當(dāng)有了適當(dāng)?shù)奶炀€條件存在很容易就產(chǎn)生干擾，另外電源線往往亦是造成天線效應(yīng)的主因 ，這是在許EMI 對策中最容易疏忽的。

?步驟三：

電源線無法移去，可在其上夾Core 或水平垂直擺動，看噪聲是否有減小或變化。若產(chǎn)品有電池設(shè)備則可取下電源線判斷，如Notebook PC 等。

如前所述電源線往往是會成為輻射天線，尤其是Desktop PC 類產(chǎn)品，往往300MHz以上的噪聲會由空間耦合到電源線上，所以判斷產(chǎn)品的電源線是否受到感染是必須的步驟。由于噪聲頻 帶的影響，對200MHz 以下可用加Core 的方式（可一次多加數(shù)個） 判斷，對于200MHz 以上 的噪聲，由于此時Core 的作用不大，可將電源線水平擺放和垂直擺放，看干擾噪聲是否有差 別，若水平和垂直有很明顯的差別，則可一邊擺動電源線一邊看頻譜儀（Spectrum)上噪聲之 大小有否變化，如此便可知道電源線有否干擾。

至于若發(fā)現(xiàn)電源線會產(chǎn)生輻射時如何解決，一般皆不好處理，通常先想辦法使機(jī)器內(nèi)的噪聲減 小，以避免電源線的二次輻射，而使用Shielded 線一般對輻射的影響并不大，故換一條不同 長度的電源線，有時也會有很好的效果。

由這一點我們可知道，除了要使可冊產(chǎn)生輻射噪聲的組件遠(yuǎn)離I/O Port 外，其也須盡量遠(yuǎn)離電 源線及Switching power supply 的板子，以免耦合到電源線上使得輻射及傳導(dǎo)皆無法通過測 試。

步驟四：

檢查電纜接頭端的接地螺絲是否旋緊及外端接地是否良好。

依前三項方式大略找了一下問題后，我們必須再做一些檢查，因為透過這些檢查，也許不須做 任何修改，便可通過EMI 測試。例如檢查電纜端的螺絲是否鎖緊，有時將松掉的螺絲上緊，可 加強電纜線的屏蔽效果。另外可檢查看看機(jī)器外接的Connector 的接地是否良好，若外殼為金 屬而有噴漆，則可考慮將Connector 處的噴漆刮掉，使其接地效果較佳。另外若使用Shielded 的電纜線，必須檢查接頭端處外覆的金屬綱是否和其鐵蓋密合，許多不佳的屏蔽線（RS232） 多因線接頭的外覆屏蔽金屬綱未冊和連接端的地密合，以致無法充份達(dá)到屏蔽的效果。

各種接頭如Keyboard 及Power supply 常常由于接頭的插頭與機(jī)器上的插座間的密合度不好 ，影響了干擾噪聲的輻射。檢查的方式可將接頭拔掉看噪聲是否減小，減小表示兩種冊可，一為 線上本身輻射干擾，另一為接頭間接觸不好，此時插上接頭，用手銷微將接頭端左右搖動，看 噪聲是否會減小或消失，若會減小可將Keyboard 或Power supply 的連接頭，用銅箔膠帶貼 一圈，以增加其和機(jī)器接頭的密合度，這一點也是實測上很容易被疏忽，而會誤判機(jī)器的EMI 為何每次測時好時壞，或花許多時間在其它的對策上面.