HONEYWELL 05358000 測厚儀

薄膜材料該如何測量？厚度小于1微米的膜材料，被稱為薄膜材料，我們要想測量它的厚度，可以使用光學(xué)測厚儀。下面筆者給大家介紹一下深圳市大成精密設(shè)備股份有限公司的光學(xué)干涉測厚儀，諸位可以通過典型應(yīng)用、測量原理、產(chǎn)品性能／參數(shù)、測量特點(diǎn)四方面來充分了解它。福建中海德公司陳陳 1800-500-6971

一、典型應(yīng)用

光學(xué)膜涂布、太陽能晶圓、超薄玻璃、膠帶、Mylar膜、OCA光學(xué)膠、光阻等測量。應(yīng)用在涂膠工序時，該設(shè)備可放置于涂膠池后、烘箱前，在線測量涂膠的厚度；也可以在線測量離型膜涂布的厚度。其精度極高，應(yīng)用甚廣，尤其適合厚度要求達(dá)到納米級的透明多層物體的厚度測量。

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