## 總結(jié)?

量子力學(xué)、量子行為、測(cè)不準(zhǔn)原理、不確定性

量子力學(xué)建立在測(cè)不準(zhǔn)原理之上，儀器的精度和準(zhǔn)確度在微觀領(lǐng)域不能同時(shí)提高，觀察微觀世界的儀器本身就會(huì)對(duì)觀察結(jié)果造成影響，從而測(cè)不準(zhǔn)。

## 開篇

開篇寫了本章的主要內(nèi)容：為了解釋微觀世界和日常經(jīng)驗(yàn)不同，并且用一種不可能以任何經(jīng)典物理學(xué)來(lái)解釋的現(xiàn)象說(shuō)明了量子力學(xué)的要點(diǎn)。

包括四個(gè)假想的實(shí)驗(yàn)，我的概括是：子彈實(shí)驗(yàn)、波的實(shí)驗(yàn)、電子實(shí)驗(yàn)、外加光源的電子實(shí)驗(yàn)。

對(duì)比子彈的粒子性質(zhì)和水波的波的性質(zhì)，來(lái)理解電子的量子行為。以下是原文。

## 子彈實(shí)驗(yàn)

? 實(shí)驗(yàn)裝置如圖1-1所示，首先是一把掃射的機(jī)槍，向任意角度發(fā)射子彈；接著是一堵帶有兩個(gè)孔的墻，孔的大小每次只能通過(guò)一顆子彈，并且子彈通過(guò)孔后以隨機(jī)的角度打向后障（子彈不是一直平行于孔的軸線打向后障）；后障相當(dāng)于靶子，能記錄子彈，還有一個(gè)可移動(dòng)探測(cè)器，距離中心位置為任意x的長(zhǎng)度。

? 通過(guò)單位時(shí)間內(nèi)，探測(cè)器接收的子彈數(shù)與后障“靶子”上的子彈數(shù)比較，就可以推測(cè)子彈出距離中心位置為x長(zhǎng)度的概率。通過(guò)改變x的值，就能測(cè)出不同位置子彈距離中心的概率。

? 孔1打開，孔2關(guān)閉，圖像為（b）的P1曲線；

? 孔1關(guān)閉，孔2打開，圖像為（b）的P2曲線；

? 孔1、2打開，圖像為（x）的曲線。

? 子彈的粒子特性，如圖上述實(shí)驗(yàn)圖像，概率是疊加的。以下是原文。

## 波的實(shí)驗(yàn)

??? 實(shí)驗(yàn)裝置如圖1-2所示，有一個(gè)一直振動(dòng)的波源，頻率相同，產(chǎn)生圓形的波；有一堵墻帶有兩個(gè)孔的墻，后面是一個(gè)吸收器，波不會(huì)發(fā)生反射，吸收器上的可移動(dòng)探測(cè)器能檢測(cè)波的強(qiáng)度，根據(jù)振動(dòng)強(qiáng)度不同，強(qiáng)度越大，探測(cè)器接收的波形起伏越明顯。原文如下。

孔1打開，孔2關(guān)閉，如（b）的 I1。

孔1關(guān)閉，孔2打開，如（b）的 I2。

孔1、2打開，如（c）所示。

（c）并不是（b）的疊加，它滿足三角函數(shù)的關(guān)系，兩個(gè)波之間發(fā)生了疊加和抵消的“干涉”。

## 電子的干涉實(shí)驗(yàn)

首先說(shuō)明，電子的實(shí)驗(yàn)現(xiàn)象與子彈的實(shí)驗(yàn)相似類似，但是實(shí)驗(yàn)的圖像確實(shí)和波的實(shí)驗(yàn)圖像一致。

實(shí)驗(yàn)裝置如圖1-3所示，電子槍發(fā)射電子，通過(guò)孔1或者孔2到后障，電子接觸探測(cè)器后會(huì)發(fā)出“卡嗒”聲響。

現(xiàn)象：不同位置，出現(xiàn)聲響的時(shí)間快慢不一樣，但是響度是一樣的；

并且如果放置兩個(gè)探測(cè)器，不可能同時(shí)發(fā)聲，

也就是說(shuō)電子有先后順序，每個(gè)時(shí)刻只有1個(gè)電子到探測(cè)器，每個(gè)時(shí)刻只有一個(gè)電子通過(guò)孔1或孔2，要么通過(guò)孔1要么通過(guò)孔2。

實(shí)驗(yàn)現(xiàn)象表現(xiàn)出子彈實(shí)驗(yàn)中粒子的性質(zhì)。

原文如下。

雖然實(shí)驗(yàn)現(xiàn)象如同粒子，但是實(shí)驗(yàn)圖像類似于波的圖像，并不是簡(jiǎn)單的疊加。

原文如下。

## 外加光源的電子實(shí)驗(yàn)

首先說(shuō)明，外加光源觀察電子后，實(shí)驗(yàn)的圖像又類似于子彈實(shí)驗(yàn)的圖像。

接著上面的實(shí)驗(yàn)，外加一個(gè)光源，光源可以觀察電子（光子碰到電子后反射到人眼）從哪個(gè)孔進(jìn)入。實(shí)驗(yàn)記錄如圖1-3所示。

孔1、2打開，外加光源，看到孔1附近閃光記錄如P1’；看到孔2附近閃光記錄如P2‘；不考慮閃光，總圖記錄如(c)。

改變光照強(qiáng)度，也許就能減少對(duì)電子的運(yùn)動(dòng)軌跡影響，但是再降低光照強(qiáng)度后，圖像依然如此，并且閃光的強(qiáng)度是一樣的（無(wú)論光照強(qiáng)度如何）。

當(dāng)光照強(qiáng)度觀察不到閃光時(shí)，圖像又變成了類似于波的性質(zhì)圖像。

原文如下。

測(cè)不準(zhǔn)原理。